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简谐势阱中的理想玻色气体 被引量:6
1
作者 陈丽璇 严子浚 +1 位作者 郑金成 林仲金 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1997年第4期530-534,共5页
应用统计物理方法对谐振势作用下的理想玻色气体进行理论计算,导出系统发生玻色-爱因斯坦凝聚(BEC)时的一些物理量,发现产生凝聚的情况与外势场的形式紧密相关.由理论计算求得的临界温度TC和基态的粒子占据率N0/N与实验... 应用统计物理方法对谐振势作用下的理想玻色气体进行理论计算,导出系统发生玻色-爱因斯坦凝聚(BEC)时的一些物理量,发现产生凝聚的情况与外势场的形式紧密相关.由理论计算求得的临界温度TC和基态的粒子占据率N0/N与实验结果符合较好.这些研究有助于对这种新物态性质的了解. 展开更多
关键词 玻色气体 玻色-爱因斯坦 凝聚 谐振势 BEC
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缺陷俘获势垒测定新方法──瞬态光霍耳谱 被引量:2
2
作者 封松林 王海龙 +1 位作者 周洁 杨锡震 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1996年第1期1-5,共5页
以瞬态光霍尔测量为基础,建立了直接观测俘获过程的深中心分析测试新手段.该方法不需要做肖特基结、p-n结、或MIS结构,几乎可在零电场下测量缺陷参数,克服电场、德拜带尾、非指数瞬态等对缺陷特性的影响,也克服了深能级瞬态... 以瞬态光霍尔测量为基础,建立了直接观测俘获过程的深中心分析测试新手段.该方法不需要做肖特基结、p-n结、或MIS结构,几乎可在零电场下测量缺陷参数,克服电场、德拜带尾、非指数瞬态等对缺陷特性的影响,也克服了深能级瞬态谱技术(DLTS)只能通过载流子发射过程间接测量俘获参数的缺点.用此方法测量了Ga0.7Al0. 展开更多
关键词 瞬态光霍耳谱 俘获势垒 缺陷 半导体
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分子束外延生长Al掺杂n型ZnS_(1-x)Tex的类DX中心 被引量:1
3
作者 卢励吾 张砚华 +4 位作者 K.K.Mak Z.H.Ma J.Wang I.K.Sou Wei kun Ge 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期145-150,共6页
应用光致发光 (PL )、电容 -电压 (C- V)、深能级瞬态谱 (DL TS)和光电导 (PC)技术系统研究 Al掺杂 Zn S1 - xTex 中与 Al有关的类 DX中心 .实验结果表明 ,Zn S1 - x Tex 中存在与 - 族半导体 DX中心相类似的性质 .获得与 Al有关的类... 应用光致发光 (PL )、电容 -电压 (C- V)、深能级瞬态谱 (DL TS)和光电导 (PC)技术系统研究 Al掺杂 Zn S1 - xTex 中与 Al有关的类 DX中心 .实验结果表明 ,Zn S1 - x Tex 中存在与 - 族半导体 DX中心相类似的性质 .获得与 Al有关的类 DX中心光离化能 Ei (~ 1.0 e V和 2 .0 e V)和发射势垒 Ee (0 .2 1e V和 0 .39e V) ,这表明 Zn S1 - x Tex大晶格弛豫的出现是由类 展开更多
关键词 分子束外延 宽禁带Ⅱ-Ⅵ族半导体 类DX中心 铝掺杂
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AlGaAs混晶中的Sn施主深能级
4
作者 康俊勇 林虹 黄启圣 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1991年第1期29-32,共4页
用DLTS(深能级瞬态谱)及光照DLTS方法研究了不同组分(x=0.26、0.40、0.53)的 Al_xGa_(1-x)As:Sn材料。所有实验样品的DLTS谱都出现两个多子谱峰A和B。在光照下,低温处的A峰更为明显。实验分别测量了A、B能级的发射及俘获的瞬态过程,用... 用DLTS(深能级瞬态谱)及光照DLTS方法研究了不同组分(x=0.26、0.40、0.53)的 Al_xGa_(1-x)As:Sn材料。所有实验样品的DLTS谱都出现两个多子谱峰A和B。在光照下,低温处的A峰更为明显。实验分别测量了A、B能级的发射及俘获的瞬态过程,用混晶无序引起能级展宽模型拟合了实验数据,得到它们的发射激活能,俘获势垒及其组分关系。分析表明,A 及B能级同属于Sn替位施主杂质,并证明DX中心深能级的复杂性。 展开更多
关键词 ALGAAS SN 混晶半导体 深能级
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n型Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体中的DX中心
5
作者 刘诺 谢孟贤 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 1998年第6期412-415,共4页
DX中心是一种由施主(D)和缺陷(X)构成的复合体,存在于n型AlGaAs等Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体之中。对DX中心的特点及其对器件的影响进行了分析,概述了弛豫模型和混晶场模型,同时,指出了这种缺陷的新应用。
关键词 化合物半导体 DX中心 弛豫模型 混晶场模型
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GaAsP混晶中Te施主深能级的研究 被引量:1
6
作者 张文清 黄启圣 康俊勇 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第1期1-5,共5页
用深能级瞬态谱(DLTS)方法研究了组分范围为x=0.11-0.95的掺Te的GaAs_(1-x)P_(?)混晶中的深能级.结果表明:样品中出现的深能级可分为A,B,C三类,其发射率激活能各约为:E_(?)~A=0.18ev,E_(?)~B=0.28eV,E_(?)~C=0.38eV.其中只有A能级在x=0.... 用深能级瞬态谱(DLTS)方法研究了组分范围为x=0.11-0.95的掺Te的GaAs_(1-x)P_(?)混晶中的深能级.结果表明:样品中出现的深能级可分为A,B,C三类,其发射率激活能各约为:E_(?)~A=0.18ev,E_(?)~B=0.28eV,E_(?)~C=0.38eV.其中只有A能级在x=0.23-0.95间的所有样品中出现,B和C能级的出现不存在明显的规律性.进一步研究了A能级的性质后,认为它来源于Te替位杂质的DX中心,而B、C能级的性质可能比较复杂. 展开更多
关键词 混晶 半导体 深能级 DX中心 能带
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AlGaAs∶Sn混晶中的两类类DX中心 被引量:1
7
作者 肖细凤 康俊勇 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第z1期83-86,共4页
在测得Al0.26Ga0.74As:Sn混晶中两类类DX中心的电子热俘获势垒精细结构后,研究和确定了其相关的束缚能、晶格驰豫能和光离化能.采用第一原理赝势法的计算和分析结果表明,Sn施主杂质次近邻Al/Ga原子的不同局域... 在测得Al0.26Ga0.74As:Sn混晶中两类类DX中心的电子热俘获势垒精细结构后,研究和确定了其相关的束缚能、晶格驰豫能和光离化能.采用第一原理赝势法的计算和分析结果表明,Sn施主杂质次近邻Al/Ga原子的不同局域组分所引起的Sn杂质及其最近邻As原子的不同晶格驰豫,是产生两类类DX中心能级精细结构的主要原因. 展开更多
关键词 AlGaAs∶Sn 第一原理赝势法 类DX中心.
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消除边缘区效应的“三脉冲DLTS”法及对DX-中心俘获过程的测量
8
作者 谢茂海 高季林 +1 位作者 葛惟锟 周洁 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第1期1-6,共6页
本文提出了一种新的方法──“三脉冲DLTS”法,用于测量深能级的热俘获截面,目的在于消除使测量产生很大误差的边缘区效应的影响,最后用这种方法,对AlGaAs:Si中DX—中心的电子热俘获截面进行了测量,结合考虑大的深能级浓度这一因素,通... 本文提出了一种新的方法──“三脉冲DLTS”法,用于测量深能级的热俘获截面,目的在于消除使测量产生很大误差的边缘区效应的影响,最后用这种方法,对AlGaAs:Si中DX—中心的电子热俘获截面进行了测量,结合考虑大的深能级浓度这一因素,通过计算机的拟合过程,给出了非常令人满意的结果。 展开更多
关键词 深能级 DX-中心 半导体 俘获过程
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瞬态C-V方法对Al_xGa_(1-x)As中DX中心的研究
9
作者 贾英波 李名复 +2 位作者 周洁 高季林 孔梅影 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第11期809-821,共13页
本文指出DX中心电容测量中边区的重要性,提出一种新的瞬态C-V方法,可以用来测量DX中心浓度、导带电子浓度和边区的空间电荷分布及导带电子浓度随温度的变化关系,并由此导出测量DX中心热电离能的方法。另外,还对DX中心正∪和负∪两种模... 本文指出DX中心电容测量中边区的重要性,提出一种新的瞬态C-V方法,可以用来测量DX中心浓度、导带电子浓度和边区的空间电荷分布及导带电子浓度随温度的变化关系,并由此导出测量DX中心热电离能的方法。另外,还对DX中心正∪和负∪两种模型的理论分析和实验结果进行了比较,得出不同模型所应满足的附加条件。 展开更多
关键词 ALGAAS DX中心 C-V测量 正U模型
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关于AlGaAs:Si中DX中心的新观点
10
作者 李名复 贾英波 +2 位作者 周洁 高季林 于鑫 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第2期81-87,共7页
本文给出DX中心为负U中心时所满足的统计规律。指出它与大量AlGaAs:Si的Hall实验不定量符合。为此我们提出,Si可能形成二种不同的施主NU和SD。NU是产生DX能级的负U中心。SD只形成浅施主能级或电激活中心。两种中心的浓度N^(NU)和N^(SD)... 本文给出DX中心为负U中心时所满足的统计规律。指出它与大量AlGaAs:Si的Hall实验不定量符合。为此我们提出,Si可能形成二种不同的施主NU和SD。NU是产生DX能级的负U中心。SD只形成浅施主能级或电激活中心。两种中心的浓度N^(NU)和N^(SD)可以比拟。且N^(SD)/N^(NU)随Si浓度增加而增加。SD中心作为一种电子源,向NU输送电子,放宽了费米能级钉扎于DX能级的条件,从而与Hall实验相符。并用此观点重新解释了过去的种种实验。 展开更多
关键词 AlGaAs:Si DX中心 负U中心 半导体
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N型合金半导体的低温电子喇曼散射
11
作者 连世阳 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1999年第1期40-45,共6页
研究了n-Ga1-xAlxAs(x>0.45)的电子喇曼散射.根据晶格动力论,讨论了Ⅲ-Ⅴ合金半导体的DX中心的物理起因.结果表明在n-Ga1-xAlxAs(x>0.22)中存在施主双稳态特性.在低温下,光感应的施主... 研究了n-Ga1-xAlxAs(x>0.45)的电子喇曼散射.根据晶格动力论,讨论了Ⅲ-Ⅴ合金半导体的DX中心的物理起因.结果表明在n-Ga1-xAlxAs(x>0.22)中存在施主双稳态特性.在低温下,光感应的施主亚稳态是平常的类氢能级,此浅施主态引起了间接带隙n-Ga1-xAlxAs(x>0.45)的电子喇曼散射和束缚声子以及直接带隙n-Ga1-xAlxAs(x<0.45)的低温持续光电导.当温度升高时,该类氢能级的电子退回到稳定的DX中心的深能态. 展开更多
关键词 DX中心 电子喇曼散射 低温 半导体 N型
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N-Ga_(1-x)Al_xAs的低温光伏特性
12
作者 连世阳 陈张海 +2 位作者 颜永美 王余姜 陈议明 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1995年第5期711-714,共4页
报道了N-Ga_(1-x)Al_xAs低温光伏的异常特性.在暗条件下降温的样品,其低温光伏的初始强度比受光照的样品的光伏初始强度大得多,对这两种不同初始条件,当样品加热到大约100~150K时,其低温光伏强度发生跳跃... 报道了N-Ga_(1-x)Al_xAs低温光伏的异常特性.在暗条件下降温的样品,其低温光伏的初始强度比受光照的样品的光伏初始强度大得多,对这两种不同初始条件,当样品加热到大约100~150K时,其低温光伏强度发生跳跃.这些异常特性归因于N-Ga_(1-x)Al_xAs(x>0.22)中的DX中心的电荷态变化. 展开更多
关键词 低温光伏 异常特性 混晶半导体
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间接蒸发冷空调数值模拟方法及在数据中心的应用 被引量:1
13
作者 郑品迪 黄冬梅 +1 位作者 杨超 韩泽磊 《制冷与空调》 2022年第11期82-91,共10页
近年来,间接蒸发冷却空调越来越多地应用于国内数据中心项目,研究间接蒸发冷空调的数值模拟实现方法,包括环境处理,数值模型参数定义,通多单独室外侧模拟验证湿热环境对多室外机组制冷能力的影响。结果表明,蒸发量的模拟结果与理论计算... 近年来,间接蒸发冷却空调越来越多地应用于国内数据中心项目,研究间接蒸发冷空调的数值模拟实现方法,包括环境处理,数值模型参数定义,通多单独室外侧模拟验证湿热环境对多室外机组制冷能力的影响。结果表明,蒸发量的模拟结果与理论计算最大误差约为3%,冷量最大误差约为5%,出风空气状态参数误差为3.66%,通过机组进风湿球温度分布,截面速度矢量分布,机组流线图等模拟结果分析多机组数值模型的热空气短路问题,通过室外侧的案例分析可以确定间接蒸发冷的数值模拟可以很好体现喷淋系统的热湿处理过程,可以得到可评价结果,可用于室外环境条件下间接蒸发冷机组性能验证。 展开更多
关键词 数据中心 数值模拟 间接蒸发冷却 换热芯体 喷淋系统 直膨补冷系统
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快速热处理对应变InGaAs/GaAs单量子阱激光二极管电子发射和DX中心的影响 被引量:1
14
作者 卢励吾 张砚华 +4 位作者 徐遵图 徐仲英 王占国 J.Wang WeikunGe 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第2期367-371,共5页
研究分子束外延 (MBE)生长的应变In0 .2 Ga0 .8As GaAs折射率梯度变化异质结单量子阱激光二极管的快速热处理 (RTA)效应 .结果表明 ,RTA移除了InGaAs GaAs界面非辐射中心 ,提高 77K光致发光效率和有源层电子发射 .同时Al和Ga原子互扩散 ... 研究分子束外延 (MBE)生长的应变In0 .2 Ga0 .8As GaAs折射率梯度变化异质结单量子阱激光二极管的快速热处理 (RTA)效应 .结果表明 ,RTA移除了InGaAs GaAs界面非辐射中心 ,提高 77K光致发光效率和有源层电子发射 .同时Al和Ga原子互扩散 ,也增加了AlGaAs波导层DX中心浓度 .RTA处理后样品电流冲击老化实验证明DX中心浓度呈现出相应的增加 .这表明DX中心可能是激光二极管性能退化的原因之一 . 展开更多
关键词 量子阱 快速热处理 电子发射 DX中心 激光二极管 RTA INGAAS/GAAS 半导体激光器 铟镓砷化合物 砷化镓
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AlGaAs∶Sn中DX中心电子俘获势垒的精细结构 被引量:3
15
作者 肖细凤 康俊勇 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第1期138-142,共5页
采用定电容电压法 ,测量了n型Al0 2 6 Ga0 74 As∶Sn中DX中心电子热俘获瞬态 ,以及不同俘获时间后的电子热发射瞬态 ;并对瞬态数据进行数值Laplace变换 ,得到其Laplace缺陷谱 (LDS) .通过分析LDS谱 ,确定了电子热俘获和热发射LDS谱之... 采用定电容电压法 ,测量了n型Al0 2 6 Ga0 74 As∶Sn中DX中心电子热俘获瞬态 ,以及不同俘获时间后的电子热发射瞬态 ;并对瞬态数据进行数值Laplace变换 ,得到其Laplace缺陷谱 (LDS) .通过分析LDS谱 ,确定了电子热俘获和热发射LDS谱之间的对应关系 ,从而得到热俘获系数对温度依赖关系 ,以及与Sn相关的DX中心部分电子热俘获势垒的精细结构 ;通过第一原理赝势法计算表明 ,Sn附近的Al 展开更多
关键词 Laplace缺陷谱 俘获势垒 DX中心 AlGaAs:Sn 精细结构 深能级缺陷 铝镓砷化合物 半导体 载流子
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Al_xGa_(1-x)As:Si中DX中心的双极化子机制及统计分析
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作者 李维峰 梁迎新 +1 位作者 金勇 魏建华 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2010年第12期8850-8855,共6页
基于极化子和双极化子的物理图像,采用无拟合参数的巨正则统计方法计算了Si掺杂的AlxGa1-xAs的导带载流子浓度,计算得到的理论结果从高温到低温都与实验结果定量一致.计算证实了AlxGa1-xAs:Si中的DX中心的基态DX-是电子-晶格相互作用产... 基于极化子和双极化子的物理图像,采用无拟合参数的巨正则统计方法计算了Si掺杂的AlxGa1-xAs的导带载流子浓度,计算得到的理论结果从高温到低温都与实验结果定量一致.计算证实了AlxGa1-xAs:Si中的DX中心的基态DX-是电子-晶格相互作用产生的负电双极化子.处于热平衡状态时,施主Si在AlxGa1-xAs中除了电离状态,处于不同晶格构型的单、双极化子态共存,低温时双极化子态被冻结;光照下发生持续光电导时,双极化子态变成单极化子态同时向导带释放一个电子,此过程伴随着进一步的晶格弛豫.理论与实验的对照说明单电子局域的DX0态在热平衡时并不能稳定存在,这和提出的双极化子机制是完全一致的. 展开更多
关键词 DX中心 双极化子 冻结
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ALLOY RANDOM EFFECT ON THE CHAR-ACTERISTICS OF DX CENTER
17
作者 康俊勇 黄启圣 《Chinese Science Bulletin》 SCIE EI CAS 1989年第15期1258-1261,共4页
Ⅰ. INTRODUCTION The study on DX center has recently received much more attention. Its known composition-dependent features can be summerized below. There is a shallow and deep level related to Si, Sn and Te donor imp... Ⅰ. INTRODUCTION The study on DX center has recently received much more attention. Its known composition-dependent features can be summerized below. There is a shallow and deep level related to Si, Sn and Te donor impurities whose concentration ratio (N_S/N_D) depends only on AlAs mole fraction, not on the methods and conditions of crystal growth as shown in Fig. 1. Both binding energy of deep level and intensity of persistent-photoconductivity (PPC) at low temperature depend pronouncedly on AlAs- 展开更多
关键词 DX CENTER DEEP level ALLOY SEMICONDUCTORS
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