自动绝对测量^(125)Ⅰ活度

用配备通用自动计数与数据处理装置的井型NaI(Tl)探测器对^(125)I活度进行了绝对测量。用DD8000多道分析器和3路计数器的测量验证了它的可靠性。研究了峰交叉对测量结果的影响,并给出各项不确定度分量的计算公式。

飞利浦DigitalDiagnostVS故障维修四例

简要的分析了飞利浦单板DRDigitalDiagnostVS的一些故障及故障产生的原因,介绍了一些维修思路和方法。

西门子AR系列CT机的环状伪影分析

本文分析了西门子AR系列CT机的环状伪影的产生原因，除了环境温度湿度变化会引起环状伪影外，如气体探测器（Detector）通道板（Hybrid）以及A/D数据转换板（DAB）等器件的老化和故障是产生环状伪影的主要原因。并且环状伪影的产生还与DAS与球管，准直器（Collimator）之间的相对位置及角度有关。