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High-k材料MOS器件的PISCES-II模拟 被引量:1
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作者 陈震 向采兰 余志平 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2003年第3期65-67,72,共4页
High-k材料是指介电常数k高于SiO2的材料。使用high-k材料做栅绝缘层,是减小MOS器件栅绝缘层直接隧道击穿(DirectTunneling,DT)电流的有效方法。文章在二维器件模拟软件PISCES-II中添加了模拟以high-k材料为栅绝缘层的MOS器件模型,并对S... High-k材料是指介电常数k高于SiO2的材料。使用high-k材料做栅绝缘层,是减小MOS器件栅绝缘层直接隧道击穿(DirectTunneling,DT)电流的有效方法。文章在二维器件模拟软件PISCES-II中添加了模拟以high-k材料为栅绝缘层的MOS器件模型,并对SiO2和high-k材料的MOS晶体管器件特性进行了模拟比较,成功地验证了所加high-k材料MOS器件模型的正确性。改进后的PISCES-II程序,可以方便地对以各种high-k材料为栅绝缘层的器件性能进行模拟。 展开更多
关键词 high-k材料 MOS器件 PISCES-Ⅱ模拟 隧道击穿 mosfet器件
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DC-DC转换器中功率沟槽MOSFET的优化设计 被引量:1
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作者 沈伟星 冉峰 +1 位作者 程东方 徐志平 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第8期157-160,共4页
利用工艺和器件模拟软件TSUPREM-4和MEDICI,研究了工艺参数对DC-DC转换器中的功率沟槽MOSFET的通态电阻Ron、栅-漏电容Cgd的影响以及栅-漏电荷Qgd在开关过程中的变化,指出了在设计和工艺上减小通态电阻Ron和栅-漏电容Cgd,提高器件综合... 利用工艺和器件模拟软件TSUPREM-4和MEDICI,研究了工艺参数对DC-DC转换器中的功率沟槽MOSFET的通态电阻Ron、栅-漏电容Cgd的影响以及栅-漏电荷Qgd在开关过程中的变化,指出了在设计和工艺上减小通态电阻Ron和栅-漏电容Cgd,提高器件综合性能的途径。 展开更多
关键词 功率沟槽mosfet 通态电阻 栅-漏电荷 工艺模拟 器件模拟
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