基于FPGA的数字相敏检波算法实现

数字相敏检波(DPSD)算法是一种有效的信号检测方法。针对某些高速采样系统采用现有DSP芯片控制模数转换和进行DPSD算法运算所出现的控制精度不高和运算速度慢等问题,详细分析了DPSD算法,设计了基于FPGA的数字相敏检波算法。该算法解决了控制信号精度不高等问题,满足高速采样系统对运算速度的要求。试验结果表明,基于FPGA的数字相敏检测算法在测试系统中能有较好的检测效果。

电阻抗成像中高速高精度数字相敏检波器设计

电阻抗成像对测量系统的精度和速度都有较高要求,为此研制了基于现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)的数字相敏检波器(digital phase-sensitive detector,DPSD)用于电阻抗成像的数据测量。在分析DPSD原理的基础上,推导出信噪比与采样点数和采样分辨率的关系。给出了测量系统的实现方案,提出了基于直接数字频率合成(direct digitalsynthesis,DDS)技术的模数转换器(analog-to-digital converter,ADC)时钟设计方法。采用高速多通道ADC芯片,辅以低抖动ADC时钟电路,最终由FPGA实现实时DPSD算法。实验测试结果显示,测量准确度可达0.03%,系统信噪比可达85dB。琼脂模型成像实验证明其性能可以较好地满足电阻抗成像的要求。