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E型硅杯结构偏差对膜片应力分布的影响 被引量:1
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作者 丁艳萍 吴坚民 郑殿忠 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 1998年第1期32-33,38,共3页
本文通过有限单元法对E型硅杯进行应力分析,研究E型硅杯的结构偏差对膜片应力分布的影响,进而给出E型硅杯的结构偏差与膜片应力非线性度的关系。
关键词 压力传感器 结构偏差 应力分析 e型硅杯
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