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GaN基外延结构中EBL层生长工艺对发光效率的影响
1
作者
孟锡俊
李建婷
刘大为
《电子测试》
2019年第12期45-46,7,共3页
根据量子限域电子溢出理论及极化场引起的能带弯曲理论,我们采用不同工艺的EBL层结构,通过控制Al组分分布,在不影响P-GaN层空穴的注入的情况下,提升电子限制能力,提升芯片的发光效率。
关键词
电子溢出
ebl层
电子限制能力
能带弯曲
Al组分渐变
下载PDF
职称材料
题名
GaN基外延结构中EBL层生长工艺对发光效率的影响
1
作者
孟锡俊
李建婷
刘大为
机构
西安中为光电科技有限公司
出处
《电子测试》
2019年第12期45-46,7,共3页
文摘
根据量子限域电子溢出理论及极化场引起的能带弯曲理论,我们采用不同工艺的EBL层结构,通过控制Al组分分布,在不影响P-GaN层空穴的注入的情况下,提升电子限制能力,提升芯片的发光效率。
关键词
电子溢出
ebl层
电子限制能力
能带弯曲
Al组分渐变
Keywords
Electronic overflow
ebl
layer
electronically limited ability
band bending
Aluminum composition gradient
分类号
TN312.8 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
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题名
作者
出处
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1
GaN基外延结构中EBL层生长工艺对发光效率的影响
孟锡俊
李建婷
刘大为
《电子测试》
2019
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