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GaN基外延结构中EBL层生长工艺对发光效率的影响
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作者 孟锡俊 李建婷 刘大为 《电子测试》 2019年第12期45-46,7,共3页
根据量子限域电子溢出理论及极化场引起的能带弯曲理论,我们采用不同工艺的EBL层结构,通过控制Al组分分布,在不影响P-GaN层空穴的注入的情况下,提升电子限制能力,提升芯片的发光效率。
关键词 电子溢出 ebl层 电子限制能力 能带弯曲 Al组分渐变
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