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LED光源寿命评估方法探讨
被引量:
4
1
作者
高金环
张磊
+2 位作者
高兆丰
黄杰
徐立生
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第12期946-948,共3页
简要介绍了北美体系(IES)和国际电工协会(IEC)体系中LED光源流明维持寿命评估标准的发展和现状。基于半导体产品可靠性相关知识,对美国照明工程学会2011年发布的IES TM-21-11 LED光源流明维持寿命的推算方法中的数据选用和数据处理方法...
简要介绍了北美体系(IES)和国际电工协会(IEC)体系中LED光源流明维持寿命评估标准的发展和现状。基于半导体产品可靠性相关知识,对美国照明工程学会2011年发布的IES TM-21-11 LED光源流明维持寿命的推算方法中的数据选用和数据处理方法提出了质疑,并通过文中提及的E3.0实例对问题观点进行了例证说明。建议选用设备可靠性试验的相关标准GB5080-85对LED光源流明维持寿命进行评估,期望能够给国内半导体照明行业相关人士提供参考。
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关键词
ed光源
流明维持寿命
流明退化率
阿列尼斯方程
最小二乘曲线拟合
点估计
区间估计
下载PDF
职称材料
题名
LED光源寿命评估方法探讨
被引量:
4
1
作者
高金环
张磊
高兆丰
黄杰
徐立生
机构
中国电子科技集团公司第十三研究所
天津铁道职业技术学院
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第12期946-948,共3页
文摘
简要介绍了北美体系(IES)和国际电工协会(IEC)体系中LED光源流明维持寿命评估标准的发展和现状。基于半导体产品可靠性相关知识,对美国照明工程学会2011年发布的IES TM-21-11 LED光源流明维持寿命的推算方法中的数据选用和数据处理方法提出了质疑,并通过文中提及的E3.0实例对问题观点进行了例证说明。建议选用设备可靠性试验的相关标准GB5080-85对LED光源流明维持寿命进行评估,期望能够给国内半导体照明行业相关人士提供参考。
关键词
ed光源
流明维持寿命
流明退化率
阿列尼斯方程
最小二乘曲线拟合
点估计
区间估计
Keywords
L
ed
light source
lumen maintenance life
lumen decay rate
Acheniums equation
the least squares curve-fit
point estimation
interval estimation
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
TN312.8 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
LED光源寿命评估方法探讨
高金环
张磊
高兆丰
黄杰
徐立生
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2013
4
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