塑封半导体器件的可靠性增长分析

应用ＥＤＲＩＣ可靠性模型对彩电配套用塑封整流二极管进行了增长分析，讨论了该器件的失效模式、失效机理及增长对策，使该器件的可靠性得到了较大的增长。