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国产ZnSe晶体的EER谱分析
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作者 赵明山 王若桢 陆建刚 《曲阜师范大学学报（自然科学版）》 CAS 1990年第4期51-53,共3页
本文报道了国产 ZnSe 材料的 EER 谱研究结果.确定了室温下 ZnSe 材料的 E_ο和E_ο+△_ο带隙能量和自旋一轨道分裂参数△_ο.利用测得的寿命展宽参数Γ对晶格完整性进行评价,结果表明国产 ZnSe 具有很好的晶格完整性.
关键词 晶体 ZN SE eer谱 晶格 半导体
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