基于自适应逐次Ⅱ型截尾样本下EIG分布的参数统计推断

近几年,针对缺失数据的处理这方面的应用研究大量涌现,使得缺失数据下的可靠性理论迅速发展.而在可靠性试验和寿命试验中,截尾方案能在试验所花费的总时间、单元个数和基于试验结果的统计推断效率之间取得平衡.在这种情况下,一种自适应的截尾方案被提出来,并且被许多专家学者研究应用.因此本文讨论,基于自适应逐次Ⅱ型截尾样本,提出了EIG分布的统计推断理论等问题.对于未知参数,提出了极大似然估计(MLEs).利用MLEs的渐近正态性得到参数的近似置信区间.并运用一组真实数据进行模拟讨论.