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EM效应下众核处理器可靠性研究
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作者 张凌嘉 覃志东 肖芳雄 《成都大学学报（自然科学版）》 2018年第3期286-290,295,共6页
在EM效应下,以众核流程序为软件模型,建立了2D-Mesh结构众核处理器的可靠性模型.仿真研究表明:对于同一众核平台,当总体负载一定时,随着被分配任务核心的增加,单个任务周期内的处理器核心老化效应增大;当被绑定核心的数量一定时,核心在... 在EM效应下,以众核流程序为软件模型,建立了2D-Mesh结构众核处理器的可靠性模型.仿真研究表明:对于同一众核平台,当总体负载一定时,随着被分配任务核心的增加,单个任务周期内的处理器核心老化效应增大;当被绑定核心的数量一定时,核心在处理器上的位置越分散,核心的老化效应越低.研究的结论有利于高可靠众核系统的设计. 展开更多
关键词 众核处理器 可靠性 流程序 em效应
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