期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
ENIG黑焊盘的原因分析及其对焊点质量的影响 被引量:2
1
作者 李晓倩 施明哲 邹雅冰 《电子显微学报》 CAS CSCD 2014年第5期436-440,共5页
本文利用扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱分析仪(EDS)以及金相切片等物理分析手段,研究了化镍浸金(ENIG)焊盘润湿不良及焊后发黑的根本原因,即镍层由于遭受浸金药水的过度攻击而产生了严重的氧化腐蚀。镍层的腐蚀不仅会降低焊盘可焊性,... 本文利用扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱分析仪(EDS)以及金相切片等物理分析手段,研究了化镍浸金(ENIG)焊盘润湿不良及焊后发黑的根本原因,即镍层由于遭受浸金药水的过度攻击而产生了严重的氧化腐蚀。镍层的腐蚀不仅会降低焊盘可焊性,也会极大减弱焊点界面的结合强度,造成焊盘润湿不良或焊点开裂失效。 展开更多
关键词 enig焊盘 发黑 氧化腐蚀 点质量
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部