ESD EMP对RAM的辐照效应及加固方法研究

静电放电产生的电磁脉冲 ( ESD EMP)有上升沿陡、频带宽和峰值大等特点 ,对电子系统的干扰和破坏很大。为考察 ESD EMP对电子系统的影响 ,对单片机系统进行了ESD EMP辐照效应实验 ,着重研究了单片机的外部数据存贮器 RAM在其作用下的各种效应。在效应实验基础上研究了

ESD EMP对某雷达接口电路的辐照效应实验

静电放电产生的电磁脉冲 (ESD EMP)具有上升沿陡、频带宽和峰值大等特点 ,它对武器装备的电子系统具有很强的干扰和破坏作用。为研究 ESD EMP对武器装备电子系统的影响 ,以某雷达接口板为实验对象 ,进行了 ESD EMP辐照效应实验。实验表明 ,该接口板在 ESD EMP作用下 ,会出现通讯出错和控制状态改变等现象。在实验基础上 。