期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
CMOS SoC芯片ESD保护设计
被引量:
1
1
作者
孙磊
张颖
潘亮
《中国集成电路》
2011年第8期39-45,共7页
本文提出从器件失效功率的角度,解释CMOS SoC(System On Chip)芯片的ESD(ElectrostaticDischarge)失效原因,总结了CMOS集成电路(IC)的多种ESD失效模式,研究了多电源系SoC芯片的ESD保护设计方法,提出了SoC芯片的ESD保护设计流程。
关键词
SOC
esd
失效模式
esd设计方法
下载PDF
职称材料
题名
CMOS SoC芯片ESD保护设计
被引量:
1
1
作者
孙磊
张颖
潘亮
机构
北京中电华大电子设计有限责任公司
出处
《中国集成电路》
2011年第8期39-45,共7页
文摘
本文提出从器件失效功率的角度,解释CMOS SoC(System On Chip)芯片的ESD(ElectrostaticDischarge)失效原因,总结了CMOS集成电路(IC)的多种ESD失效模式,研究了多电源系SoC芯片的ESD保护设计方法,提出了SoC芯片的ESD保护设计流程。
关键词
SOC
esd
失效模式
esd设计方法
Keywords
SoC
esd
failure mechanism
esd
design method
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
CMOS SoC芯片ESD保护设计
孙磊
张颖
潘亮
《中国集成电路》
2011
1
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部