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非易失性存储器:最新发展趋势及测试评估设备
1
作者
IsaoYano RyoichiOgino
《中国集成电路》
2004年第4期19-25,共7页
目前便携式终端诸如PDAs及数码相机等产品的应用迅速扩展,广泛应用于建立数据基础结构。这些趋势加速了半导体制造商之间的竞争。非易失性存储器,由于在电源断电时能存储数据而引起越来越多的关注,并且使用范围日益广泛。
关键词
非易失性存储器
espec公司
发展趋势
多电平应用
闪存
MRAM
OUM
FERAM
持久力测试
操作扰动测试
坏块控制
下载PDF
职称材料
题名
非易失性存储器:最新发展趋势及测试评估设备
1
作者
IsaoYano RyoichiOgino
机构
EspecCorp.SystemEngineeringDepartment
出处
《中国集成电路》
2004年第4期19-25,共7页
文摘
目前便携式终端诸如PDAs及数码相机等产品的应用迅速扩展,广泛应用于建立数据基础结构。这些趋势加速了半导体制造商之间的竞争。非易失性存储器,由于在电源断电时能存储数据而引起越来越多的关注,并且使用范围日益广泛。
关键词
非易失性存储器
espec公司
发展趋势
多电平应用
闪存
MRAM
OUM
FERAM
持久力测试
操作扰动测试
坏块控制
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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作者
出处
发文年
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操作
1
非易失性存储器:最新发展趋势及测试评估设备
IsaoYano RyoichiOgino
《中国集成电路》
2004
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