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非易失性存储器:最新发展趋势及测试评估设备
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作者 IsaoYano RyoichiOgino 《中国集成电路》 2004年第4期19-25,共7页
目前便携式终端诸如PDAs及数码相机等产品的应用迅速扩展,广泛应用于建立数据基础结构。这些趋势加速了半导体制造商之间的竞争。非易失性存储器,由于在电源断电时能存储数据而引起越来越多的关注,并且使用范围日益广泛。
关键词 非易失性存储器 espec公司 发展趋势 多电平应用 闪存 MRAM OUM FERAM 持久力测试 操作扰动测试 坏块控制
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