电子断层扫描技术在催化纳米材料重构中的研究

揭示纳米尺度下催化材料结构与性能之间的关系,透射电镜技术是一种不可或缺的表征方法。本文通过透射电镜形貌像、高分辨透射电子显微(high resolution transmission electron microscopy,HRTEM)像及高角环形暗场(high angle annular dark field,HAADF)方法,并运用电子断层扫描技术(electron tomography,ET),揭示了Pt Co合金纳米颗粒的物相结构以及表面包围晶面形态信息,重构出催化剂纳米颗粒的凹面六四面体的三维形态结构。此外,本文将电子断层扫描技术扩展到负载型多孔沸石咪唑脂骨架结构材料(ZIF-8)和介孔Al_2O_3分子筛两种材料的分析研究,在一定程度上弥补了常规透射电镜显微成像仅能提供二维投影信息的不足。最后基于目前ET技术的优势和不足,讨论并展望了透射电镜相关ET硬件技术的发展和应用前景。

神经衰弱的大脑涨落图分型

神经衰弱是一种常见病、多发病,虽不危及生命,却常因久治不愈而使患者痛苦、医者困惑。为探索神经衰弱时,大脑电生理的变化规律,以指导临床对本病的诊断和治疗,笔者采用先进的大脑涨落图技术(Encephalofluctuograph Technology简称ET扫描技术)检测患者在心理静态时α波能量涨落熵的特征及其优势频率、准优势频率的变化趋势,并与正常人进行对比。据此可将神经衰弱分为不同类型。

运用互补性显微术在终极尺度上三维重构并分析同一个纳米级样品

运用两种不同的纳米尺度或原子尺度测量分析方法分析同一个样品,对完全掌握一种材料或产品的属性至关重要,这种优势互补的分析方法特别适用于测定MOSFET、FINFET等新一代纳米级晶体管的掺杂分布情况。本文综合电子断层扫描技术（ET）与原子探针层析技术（APT）两种表征方法,研究纳米级晶体管中硼原子空间分布特征。