期刊文献+
共找到6篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
注C^+外延硅的光致发光特性 被引量:1
1
作者 李玉国 王强 +2 位作者 薛成山 李怀祥 石礼伟 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第12期1272-1275,共4页
在 N型外延硅中注入 C+并经高温退火形成了 Si C沉积 .不同条件下进行阳极氧化腐蚀后 ,在 2 6 0 nm光激发下获得了 340 nm和 4 30 nm的紫外和紫光峰 ,它们的单色性很好 ,半高宽 (FWHM)约为 10 nm.在以上条件下 Si C沉积并未多孔化 ,认为... 在 N型外延硅中注入 C+并经高温退火形成了 Si C沉积 .不同条件下进行阳极氧化腐蚀后 ,在 2 6 0 nm光激发下获得了 340 nm和 4 30 nm的紫外和紫光峰 ,它们的单色性很好 ,半高宽 (FWHM)约为 10 nm.在以上条件下 Si C沉积并未多孔化 ,认为 340 nm和 4 30 nm峰可能源于样品中的 C、O杂质镶嵌于纳米硅表面所形成的发光中心 .讨论了各种发光中心形成的可能条件 ,并对实验结果做出了初步解释 . 展开更多
关键词 注碳外延硅 单色性 发光中心 光致发光特性
下载PDF
C^+注入硅形成β-SiC埋层研究 被引量:4
2
作者 陈长清 杨立新 +1 位作者 严金龙 陈学良 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第2期140-145,共6页
在200℃和680℃下对P型(100)单晶硅进行不同剂量的C+注入,实验表明680℃下注入形成的β-SiC埋层存在<100>取向生长的结晶态,经过1160℃氮气氛4小时或8小时退火后,结晶度得到进一步增强;200℃下注入形成的β-SiC埋层为无定形态... 在200℃和680℃下对P型(100)单晶硅进行不同剂量的C+注入,实验表明680℃下注入形成的β-SiC埋层存在<100>取向生长的结晶态,经过1160℃氮气氛4小时或8小时退火后,结晶度得到进一步增强;200℃下注入形成的β-SiC埋层为无定形态,即使经过1160℃氮气氛4小时或8小时退火之后仍没有发现结晶态衍射峰存在.研究同时揭示了不同C+注入剂量对所形成β-SiC埋层结晶程度的影响,以及不同退火工艺对于样品制备的影响.通过AES成分深度测试及剖面透射电子显微镜(XTEM)可以直观分析β-SiC埋层的内在结构. 展开更多
关键词 碳化硅 埋层 注入
下载PDF
SOI材料的制备技术 被引量:3
3
作者 肖清华 屠海令 +3 位作者 周旗钢 王敬 常青 张果虎 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第6期460-467,共8页
SOI材料被誉为“二十一世纪硅集成电路技术”的基础。它可消除或减轻体硅中的体效应、寄生效应及小尺寸效应等 ,在超大规模集成电路、光电子等领域有广阔的应用前景。介绍了注氧隔离、智能剥离、硅片剥离及外延层转移等几种主要的制备SO... SOI材料被誉为“二十一世纪硅集成电路技术”的基础。它可消除或减轻体硅中的体效应、寄生效应及小尺寸效应等 ,在超大规模集成电路、光电子等领域有广阔的应用前景。介绍了注氧隔离、智能剥离、硅片剥离及外延层转移等几种主要的制备SOI材料的方法及近期相关的研究成果。降低制造成本。 展开更多
关键词 SOI 注氧隔离 智能剥离 硅片键合 减薄 外延层转移
下载PDF
退火温度对碳注入外延硅蓝光发射特性的影响
4
作者 李忠 赵显 +1 位作者 李玉国 薛成山 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2004年第7期46-47,50,共3页
获得了不同退火温度注碳外延硅的蓝光发射谱,分析了退火温度对其蓝光发射特性的影响,发现退火温度为 1 000℃样品具有最强的发射强度。认为经碳注入所引入的杂质C = O 复合体是发光的重要因素;经碳注入氮气氛中退火及电化学腐蚀处理形... 获得了不同退火温度注碳外延硅的蓝光发射谱,分析了退火温度对其蓝光发射特性的影响,发现退火温度为 1 000℃样品具有最强的发射强度。认为经碳注入所引入的杂质C = O 复合体是发光的重要因素;经碳注入氮气氛中退火及电化学腐蚀处理形成纳米硅镶嵌结构,因量子限制效应–表面复合效应而发光。 展开更多
关键词 注碳外延硅 蓝光发射 纳米硅镶嵌结构 氮气氛中退火
下载PDF
用时间分辨反射率技术研究硅的固相外延
5
作者 王小兵 朱福英 +2 位作者 潘浩昌 曹德新 朱德彰 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 1994年第8期471-475,共5页
用时间分辨反射率技术实时测量了Si+、As+注入单晶硅的固相外延生长速率和外延层厚度,并与背散射沟道方法测得的非晶层厚度进行了比较。介绍了测量原理,分析了实验结果.
关键词 离子注入 固相外延 反射率
下载PDF
Ⅲ-Ⅴ semiconductor nanocrystal formation in silicon nanowires via liquid-phase epitaxy
6
作者 Slawomir Prucnal Markus Glaser +9 位作者 Alois Lugstein Emmerich Bertagnolli Michael Stoger-Pollach Shengqiang Zhou Manfred Helm Denis Reichel Lars Rebohle Marcin Turek Jerzy Zuk Wolfgang Skorupa 《Nano Research》 SCIE EI CAS CSCD 2014年第12期1769-1776,共8页
Direct integration of high-mobility III-V compound semiconductors with existing Si-based complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) processing platforms presents the main challenge to increasing the CMOS perform... Direct integration of high-mobility III-V compound semiconductors with existing Si-based complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) processing platforms presents the main challenge to increasing the CMOS performance and the scaling trend. Silicon hetero-nanowires with integrated III-V segments are one of the most promising candidates for advanced nano-optoelectronics, as first demonstrated using molecular beam epitaxy techniques. Here we demonstrate a novel route for InAs/Si hybrid nanowire fabrication via millisecond range liquid-phase epitaxy regrowth using sequential ion beam implantation and flash-lamp annealing. We show that such highly mismatched systems can be monolithically integrated within a single nanowire. Optical and microstructural investigations confirm the high quality hetero-nanowire fabrication coupled with the formation of atomically sharp interfaces between Si and InAs segments. Such hybrid systems open new routes for future high-speed and multifunctional nanoelectronic devices on a single chip. 展开更多
关键词 liquid phase epitaxy INAS hetero-nanowires silicon ion implantation
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部