用F-P干涉法检验塞曼效应

塞曼效应是原子物理学的一项重要理论。学习和正确掌握塞曼效应实验方法对深刻理解原子光谱的分裂现象是十分重要的。本文将介绍塞曼效应的实验原理及方法。

超窄带梳状滤波器固体腔的厚度测量方法研究

运用法布里-珀罗(Fabry-Perot)干涉技术,将被测元件等效成测量系统的干涉腔,采用相邻干涉极值的判定依据,实现了对固体腔型超窄带梳状滤波器组成元件——未镀膜层固体腔(熔融石英)的高精度厚度测量。该光学测量系统结构简单、温度稳定性好、成本低,完全可以实现以往需采用光谱分析仪才能完成的超精细测量。

一种基于梳状滤波器的固体腔厚度测量方法

针对密集波分复用(DWDM)技术中所使用的梳状滤波器,对固体腔研磨厚度指标要求极高Δν=200GHz,Δd≤13.37nm,本文提出运用法布里-珀罗干涉理论(Fabry-Perot),研究设计了一种针对固体腔厚度的现场检测方法。该方法根据被测元件等效为系统干涉腔的间接测量方法,以通过被测元件后的法珀相邻能量极值特性,作为检测厚度合格的判定依据,实现了对超窄带梳状滤波器组成元件——未镀膜层固体腔(SiO2)的高精度厚度检测。实验结果表明,该测量方法适用于对透光介质的厚度检测。