FCT6芯片的内建自测试方法

FCT6芯片是一个集成了 Intel80 31微处理器及一些外围电路的嵌入式微控制器 ,它的集成度和复杂度高 ,又有嵌入式 RAM部件 ,而且芯片管脚数相对较少 ,必须要有一定的可测试性设计来简化测试代码 ,提高故障覆盖率。简要讨论了 FCT6芯片的以自测试为核心的可测试性设计框架 ,着重介绍了内建自测试的设计与实现 ,即 :芯片中控制器 PLA和内嵌 RAM结构的内建自测试设计。测试代码开发过程中的仿真结果表明 ,这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度 ,并保证了满意的故障覆盖率。