基于FP法的EPOR配体高通量筛选模型

目的 寻找疗效好、副作用小的EPO功能类似物。方法 用FITC标记EPO，从FVA细胞中提取含EPO受体的细胞膜，建立了用FP法筛选EPOR配体的模型，并对实验条件进行了优化和可能影响模型的因素（DMSO）进行了分析，此外用Z’因子对此模型进行了评估。结果 样品中含0％～5％DMSO不会对实验结果产生影响，Z’因子的值为0．78．结论 建立的筛选模型稳定性好和准确率高。

SDD-EDXRF中FP法无标样校正钒钛铁间吸收增强效应

依据基本参数法(FP法)无标样分析原理建立了数理模型,计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数,并将其应用于能量色散X荧光(EDXRF)分析。实验中,对V-Ti-Fe伪三元系样品利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF)进行能谱测量,采用自行开发的FP法无标样分析程序,分析得到了三元系混合样品中各元素的含量。结果表明该无标样数理模型能较好地克服V-Ti-Fe元素间的吸收增强效应,方法的精密度相对标准偏差低于0.9%,测量值与实际值的最低相对误差小于1%。

铜合金X射线荧光光谱通用工作曲线制作—FP法虚拟合成标样应用

X射线荧光光谱仪的问世给铁、镍、铝、钛、镁和铜等合金的成分分析提供了有力的工具,它快速、准确,尤其是在准确性和高含量分析方面比直读光谱法更具有优越性。文章所述方法选择了6套标准样品,采用FP法虚拟合成一个单标样,该方法可供分析铜合金中16个元素,分析结果可靠,分析范围宽广。

FP方法在电力部门远程图像监控系统开发中的应用

运用软件工程思想对“电力部门远程图像监控系统”项目启动阶段的软件需求分析和项目计划进行设计。采用FP(功能点)方法计算此项目的功能点,以此来度量项目的工作量。完成了项目软件需求说明书和项目计划书,并以此对系统软件进行设计和开发。

‘赤霞珠’葡萄果实成熟度对葡萄酒香气物质及感官特征的影响

探究不同成熟度葡萄所酿葡萄酒的感官特征和差异香气物质,选取20、23、25、27.5°Brix 4个成熟度的葡萄进行小规模发酵,利用GC-MS和Flash Profile(FP)法对不同成熟度的葡萄酒进行分析。结果表明,随着成熟度的上升,酒体中酒精含量增加,总酸含量降低,醇类的含量总体呈上升的趋势,而酸类表现出先上升后下降的趋势。T27.5酒样中2-甲基丁醇、丁酸乙酯的含量最高(620.62、5.45 mg/L),酒体呈现出最浓郁的果香和脂肪香气;T25酒样中异丁酸乙酯的含量最高(2.77 mg/L),酒体呈现在出最浓郁的花香和甜味,T23和T20没有凸显的香气特征。感官评价分析得到T27.5酒样中青草香突出,T25红色浆果香表现突出,T23和T20则在酸味和色泽上有明显的感官特点。综上,在4个成熟度酒款中,T20和T23酒样的外观和口感等感官质量最佳,T25和T27.5酒样的活性香气成分最多,该研究为科学控制葡萄成熟度、生产多元化的葡萄酒提供理论依据。

X射线荧光光谱法测定彩涂板无铬预钝化层膜厚

预钝化涂层膜厚是彩涂板生产过程中的重要指标之一,准确测量钝化层膜厚对彩涂板产品质量具有重要意义。根据XRF的检测原理和设备特点,使用台式XRF对常见彩涂板无铬预钝化层中特征元素Si、Zr含量进行分析检测,并将FP法与标准曲线法两种测定方法进行了对比。结果表明,XRF对纳米级钝化层厚度检测具有良好的准确性和稳定性,可以高速、有效地应用于彩涂板无铬预钝化层膜厚的分析;相较FP法,标准曲线法偏差更小,测定结果精确度更高。

功能点分析方法在建筑工程监督巡查项目开发中的应用

软件项目的度量是软件项目管理的一个重要问题。为在度量中取得合理、有效的结果,研究了功能点分析法在软件项目管理中的应用。首先介绍了功能点分析法的原理,然后结合一个具体的项目——建筑工程监督巡查系统,详细阐述了功能点分析法的运用过程。实践表明,取得了很好的效果。

龙脑樟法呢基焦磷酸合酶基因克隆及表达模式分析

法呢基焦磷酸合酶(farnesyl pyrophosphate synthetase,FPS)是萜类及其衍生物合成的关键限速酶。本研究以龙脑樟为材料,基于转录组测序,克隆CcFPS基因,利用生物信息学软件分析该基因编码的氨基酸序列特征,并采用实时荧光定量PCR(qPCR)检测CcFPS基因的表达,分析龙脑樟根、茎、叶中该基因的表达与总萜含量的关系。结果表明:CcFPS基因的开放阅读框为1053bp,编码350个氨基酸,分子量为40.4kDa,等电点pI为5.25,亲水性平均值(GRAVY)为-0.299。氨基酸同源性与沉水樟最高(98.86%),含有7个相同的保守结构域和2个富含天冬氨酸的基序[DDXX(XX)D]。二级结构α-螺旋、β-折叠、β-转角和无规则卷曲的比例分别为61.14%、6.57%、2.86%和29.43%,三级结构预测与沉水樟极其相似。系统发育树(NJ树)结果显示,CcFPS蛋白与同为樟科的沉水樟、山苍子的FPS处于同一个分支上。CcFPS基因在龙脑樟的根、茎、叶中均有表达,且表达具有组织特异性,在叶中的相对表达量最高,根中次之,茎中最低。在CcFPS蛋白调控的萜类物质代谢通路中,茎中的总萜含量最高,根中次之,叶中最低。龙脑樟FPS基因表达与总萜含量具有相关性,为进一步解析FPS基因在龙脑樟萜类化合物合成过程中的作用提供参考。

青蒿高产株系001法呢基焦磷酸合酶基因的克隆、原核表达及酶活性测定

法呢基焦磷酸合酶(FPS)是治疗疟疾的特效药物——青蒿素生物合成途径的关键酶。运用RT-PCR方法从青蒿高产株系001中克隆法呢基焦磷酸合酶基因;构建His标签融合蛋白FPS表达载体,进行原核诱导表达、蛋白纯化及酶活性测定的研究。结果表明:克隆的FPS基因和文献已报道的2个青蒿FPS基因编码的氨基酸序列的同源性分别为98.83%和99.42%;原核诱导表达的His标签融合蛋白FPS的表达量高、可溶性好,具有FPS酶活性。

功能点度量法在CATV信息查询系统中的应用

文章介绍了功能点(FP)度量法及其在CATV(有线电视)用户工程项目进展信息管理与查询系统软件工程中的应用,根据功能点(FP)度量法估算出了CATV用户工程项目进展信息管理与查询系统软件开发的功能点值,该方法可以为软件开发项目的成本估算提供依据,从而尽可能早地制定软件的开发与管理计划。

一种用X-射线荧光光谱法测定硅酸盐及碳酸盐类样品中氧化物的通用方法

宽范围氧化物定量分析是一种基于理论α法"表观浓度"概念(即元素浓度与谱线强度间的线性相关原理)适用于硅酸盐和碳酸盐类物料中多种氧化物的高精度定量分析方法。用硼酸盐为熔剂的熔融法制备样品,以单一纯元素氧化物或多元素氧化物合成方法配制标样,用基本参数法(FP)或理论α系数法校正残余基体影响。本文介绍以表观浓度概念为基础的宽范围氧化物分析方法,特别是以单元素或多元素氧化物合成的单点或多点标样校准仪器,取代多组分相似标样校准方法,实现精确的定量分析。根据冶金分析原辅材料的特点与要求,参照宽范围氧化物分析方法,加以适当的修改和调整,建立了一种以基本参数法为基础,适合于硅酸盐中多种氧化物的X-射线荧光光谱通用分析方法,用于对硅酸盐及碳酸盐类样品中氧化物的测定,结果与认定值均符合。

一种高灵敏度X射线密度测量技术

介绍了一种高灵敏度X射线密度测量的基本原理以及基于此原理研制的X射线密度仪。采用FP法迭代计算出被测物质中各元素的含量,再由密度公式算出该物质的密度。该密度仪的软件部分用C语言编写,人机交互界面友好,初步应用表明其稳定性较好、灵敏度高,测得饱和厚度合金样的密度与其理论计算值相吻合,此X射线密度仪有很好的应用前景。

固定点源测深激电异常研究

电阻率法三维有限元数值模拟方法的实现,给研究形状复杂的地质体的电性异常提供了有力工具.本文利用该数值模拟程序,通过先模拟计算模型的视电阻率,然后利用视电阻率和视极化率的转换公式转换,从而实现对激电异常的数值模拟.文章计算并分析了固定点源测深法在各种1-D、2-D、3-D模型下的激电异常规律及定量解释结果,力求使人们从空间不同角度了解该方法的IP异常规律,从而指导野外生产实践,提高解释效率和精度.

使用散射X射线的理论强度进行土壤、岩石中的微量重元素的X射线荧光分析

是依据FP法进行土壤、岩石中的Pb ,As等微量重元素的X射线荧光定量分析的方法。FP法对定量元素的荧光X射线进行理论强度计算 ,同时对散射X射线也进行计算 ,用于多种样品的定量分析 ,提高了定量元素准确度。

用X射线晶片分析器同时测定硅片上薄膜的厚度及组成

晶片专用X射线荧光分析装置在半导体工业中被用于多种工程的评价。在半导体分析中XRF法的显著特征是能分析各种薄膜(氧化膜、硅化物膜、金属膜等);能同时分析晶片上同一部位的膜厚及组成;XRF法是非破坏分析,因受化学键的影响不大,同一个试样可以反复使用。 厚度在400nm以上的掺硼磷硅玻璃(BPSG)膜的分析结果已做报道。近年,随着对半导体器件的高度集成化、高性能化(64 Mbit以上)要求的提高,希望能更准确地分析。作为有代表性的氧化膜——BPSG膜,为改善其在工程中的热处理特性,B_2O_3、P_2O_5的浓度控制是不可缺少的。为了满足这些要求,必须分析更薄的薄膜(300nm以下),在薄膜分析中的关键问题是B Kα背底的变动。 B分析的新光学系统改善了声噪比(S/N),使250nm以上的BPSG膜的分析成为可能。为了提高晶片分析器的性能,在装置上做了一些改良:真空度的稳定化;减轻污染的特制真空泵;分光室部分的恒温化。新的晶体分析器无论在短期或长期的测定,对10％B_2O_3的测定能做到1％的相对精度。 对在硅晶片上的钨硅化物的分析,不能使用W Lα及Si Kα两种谱线,而应使用W的两种谱线(浓度分析用W-N线,膜厚分析对用W-Lα线)。 膜厚测定的相对精度在0.2％以下,对于Si/W=2.5,摩尔比精度约0.015％(相对精度约为0.56％)。