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高频线圈坡面对生长FZ单晶的影响
被引量:
1
1
作者
董军恒
刘洪飞
《电子工业专用设备》
2011年第4期25-28,共4页
通过对高频线圈下坡面对生长FZ单晶的作用,分析了不同坡面线圈的磁力分布,以及磁力在单晶生长过程中的作用。线圈下面坡度的大小,会产生分布不同的磁力,在FZ单晶生长时,磁力对固液交界面的外边缘有重要的影响。分析认为采用下坡度合适...
通过对高频线圈下坡面对生长FZ单晶的作用,分析了不同坡面线圈的磁力分布,以及磁力在单晶生长过程中的作用。线圈下面坡度的大小,会产生分布不同的磁力,在FZ单晶生长时,磁力对固液交界面的外边缘有重要的影响。分析认为采用下坡度合适的加热线圈,可以有利于单晶的顺利生长,提高单晶的成功率。
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关键词
fz单晶
高频线圈
磁力
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职称材料
国产炉拉制Φ>76.2mm无位错FZ硅单晶的两种工艺热场分析
2
作者
黄立新
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第2期55-59,共5页
对国产设备试制及生产Φ>76.2mm无位错FZ硅单晶的两种最为稳定的工艺热场作了较全面的分析总结。
关键词
硅
单晶
无位错
fz
硅
单晶
工艺热场分析
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职称材料
FZ硅单晶中氧对晶体寿命的贡献——少子复合机构的转变
3
作者
王炎
《四川有色金属》
1998年第4期23-26,共4页
本文介绍了FZ硅单晶中由于氧的引入而引起晶体中微缺陷数量的变化,以及氧与微缺陷、杂质间的相互作用而形成络合物,使得硅中缺陷、杂质能级发生变化,而改变少于复合形式,从而使得晶体寿命随之变化.提出了特长寿命中少子复合的模拟.
关键词
fz
硅
单晶
晶体寿命
硅
单晶
氧
少子复合
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职称材料
影响区熔硅单晶电阻率均匀性的主要因素
被引量:
2
4
作者
刘洪
《电子工业专用设备》
2012年第8期4-6,共3页
通过对弯曲的结晶界面的研究,分析其对分凝系数、分凝方向及界面杂质分布的影响;通过改变拉晶参数以改变结晶界面的弯曲程度,减小分凝系数的变化及径向分凝的强度。分析影响电阻率均匀性的主要因素,改变其生产工艺。
关键词
fz单晶
结晶界面
径向分凝
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职称材料
Φ105mm区熔硅单晶的生长工艺研究
被引量:
3
5
作者
郭立洲
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期513-516,共4页
介绍了FZ硅单晶的熔区悬浮原理 ,说明了生产Φ10 5mmFZ硅单晶所用多晶原材料的技术标准 ,通过对不同形式的加热线圈进行分析 ,指出了较理想的加热线圈 ,讨论了反射器和改进后的晶体夹持装置的具体应用。对Φ10
关键词
fz
硅
单晶
加热线圈
夹持装置
生长工艺
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职称材料
我国半导体硅材料的新发展
6
作者
徐远林
杨波
《中国金属通报》
2004年第25期23-25,共3页
本文综述了我国高速发展的硅材料最新研究发展状况和硅材料的生产和市场状况。指出了国内目前存在的差距,并提出了发展我国硅材料的建议。
关键词
半导体硅材料
新发展
发展状况
市场状况
最新研究
高速发展
多晶硅
fz
硅
单晶
单晶
硅
抛光片
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职称材料
题名
高频线圈坡面对生长FZ单晶的影响
被引量:
1
1
作者
董军恒
刘洪飞
机构
中国电子科技集团公司第四十六研究所
出处
《电子工业专用设备》
2011年第4期25-28,共4页
文摘
通过对高频线圈下坡面对生长FZ单晶的作用,分析了不同坡面线圈的磁力分布,以及磁力在单晶生长过程中的作用。线圈下面坡度的大小,会产生分布不同的磁力,在FZ单晶生长时,磁力对固液交界面的外边缘有重要的影响。分析认为采用下坡度合适的加热线圈,可以有利于单晶的顺利生长,提高单晶的成功率。
关键词
fz单晶
高频线圈
磁力
Keywords
fz
crystal
High-frequency coil
Magnetic force
分类号
TN305.1 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
国产炉拉制Φ>76.2mm无位错FZ硅单晶的两种工艺热场分析
2
作者
黄立新
机构
峨眉半导体材料厂
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第2期55-59,共5页
文摘
对国产设备试制及生产Φ>76.2mm无位错FZ硅单晶的两种最为稳定的工艺热场作了较全面的分析总结。
关键词
硅
单晶
无位错
fz
硅
单晶
工艺热场分析
Keywords
Monocrystalline silicon Free Dislocation
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
FZ硅单晶中氧对晶体寿命的贡献——少子复合机构的转变
3
作者
王炎
机构
峨眉半导体材料厂
出处
《四川有色金属》
1998年第4期23-26,共4页
文摘
本文介绍了FZ硅单晶中由于氧的引入而引起晶体中微缺陷数量的变化,以及氧与微缺陷、杂质间的相互作用而形成络合物,使得硅中缺陷、杂质能级发生变化,而改变少于复合形式,从而使得晶体寿命随之变化.提出了特长寿命中少子复合的模拟.
关键词
fz
硅
单晶
晶体寿命
硅
单晶
氧
少子复合
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
影响区熔硅单晶电阻率均匀性的主要因素
被引量:
2
4
作者
刘洪
机构
中国电子科技集团公司第四十六研究所
出处
《电子工业专用设备》
2012年第8期4-6,共3页
文摘
通过对弯曲的结晶界面的研究,分析其对分凝系数、分凝方向及界面杂质分布的影响;通过改变拉晶参数以改变结晶界面的弯曲程度,减小分凝系数的变化及径向分凝的强度。分析影响电阻率均匀性的主要因素,改变其生产工艺。
关键词
fz单晶
结晶界面
径向分凝
Keywords
fz
crystal
Crystalline interface
Radial segregation
分类号
TN304.1 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
Φ105mm区熔硅单晶的生长工艺研究
被引量:
3
5
作者
郭立洲
机构
河南新乡华丹电子有限责任公司
出处
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期513-516,共4页
文摘
介绍了FZ硅单晶的熔区悬浮原理 ,说明了生产Φ10 5mmFZ硅单晶所用多晶原材料的技术标准 ,通过对不同形式的加热线圈进行分析 ,指出了较理想的加热线圈 ,讨论了反射器和改进后的晶体夹持装置的具体应用。对Φ10
关键词
fz
硅
单晶
加热线圈
夹持装置
生长工艺
Keywords
fz
silicon monocrystal
heating coil, supporter, growth process
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
我国半导体硅材料的新发展
6
作者
徐远林
杨波
机构
峨眉半导体材料研究所
出处
《中国金属通报》
2004年第25期23-25,共3页
文摘
本文综述了我国高速发展的硅材料最新研究发展状况和硅材料的生产和市场状况。指出了国内目前存在的差距,并提出了发展我国硅材料的建议。
关键词
半导体硅材料
新发展
发展状况
市场状况
最新研究
高速发展
多晶硅
fz
硅
单晶
单晶
硅
抛光片
分类号
TN304.1 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
高频线圈坡面对生长FZ单晶的影响
董军恒
刘洪飞
《电子工业专用设备》
2011
1
下载PDF
职称材料
2
国产炉拉制Φ>76.2mm无位错FZ硅单晶的两种工艺热场分析
黄立新
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1999
0
下载PDF
职称材料
3
FZ硅单晶中氧对晶体寿命的贡献——少子复合机构的转变
王炎
《四川有色金属》
1998
0
下载PDF
职称材料
4
影响区熔硅单晶电阻率均匀性的主要因素
刘洪
《电子工业专用设备》
2012
2
下载PDF
职称材料
5
Φ105mm区熔硅单晶的生长工艺研究
郭立洲
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
3
下载PDF
职称材料
6
我国半导体硅材料的新发展
徐远林
杨波
《中国金属通报》
2004
0
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职称材料
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