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干涉成像光谱仪的杂散光分析
被引量:
14
1
作者
杜述松
王咏梅
+1 位作者
杜国军
王英鉴
《应用光学》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第2期246-251,共6页
杂散光对光学系统的成像质量有严重的影响。从杂散光的定义出发,分析杂散光的来源,建立评价杂散光对系统影响的主要指标和点源透过率、杂散辐射比的数学模型,用TracePro对Fabry-Perot干涉成像光谱仪的杂散光进行分析和计算,通过在系统...
杂散光对光学系统的成像质量有严重的影响。从杂散光的定义出发,分析杂散光的来源,建立评价杂散光对系统影响的主要指标和点源透过率、杂散辐射比的数学模型,用TracePro对Fabry-Perot干涉成像光谱仪的杂散光进行分析和计算,通过在系统中增加遮光光栏能有效抑制系统中的杂散光,有效降低杂散辐射比。采用分析结果对Fabry-Perot干涉成像光谱仪的光机系统进行消除杂散光设计。
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关键词
光学系统
fabry—perot干涉成像光谱仪
杂散光
TRACEPRO
下载PDF
职称材料
题名
干涉成像光谱仪的杂散光分析
被引量:
14
1
作者
杜述松
王咏梅
杜国军
王英鉴
机构
中国科学院空间科学与应用研究中心
出处
《应用光学》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第2期246-251,共6页
文摘
杂散光对光学系统的成像质量有严重的影响。从杂散光的定义出发,分析杂散光的来源,建立评价杂散光对系统影响的主要指标和点源透过率、杂散辐射比的数学模型,用TracePro对Fabry-Perot干涉成像光谱仪的杂散光进行分析和计算,通过在系统中增加遮光光栏能有效抑制系统中的杂散光,有效降低杂散辐射比。采用分析结果对Fabry-Perot干涉成像光谱仪的光机系统进行消除杂散光设计。
关键词
光学系统
fabry—perot干涉成像光谱仪
杂散光
TRACEPRO
Keywords
optical system
fabry
-
perot
interference imaging spectrometer
stray light
TracePro
分类号
O439 [机械工程—光学工程]
TH744.3 [机械工程—光学工程]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
干涉成像光谱仪的杂散光分析
杜述松
王咏梅
杜国军
王英鉴
《应用光学》
CAS
CSCD
北大核心
2009
14
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