细间距器件SnAgCu焊点热疲劳性能研究(英文)

通过试验和数值模拟两种方法分析细间距器件SnAgCu焊点的热疲劳寿命。采用-55～125℃温度循环试验,发现SnAgCu焊点疲劳寿命约为1150次。基于Anand方程和Wong方程两种本构模型,针对两类疲劳寿命预测方程进行对比研究。结果显示,基于两种模型计算的SnAgCu焊点应力时间历程曲线具有相类似的趋势,但是应力值有较大差别。针对两类疲劳寿命预测方程,结合试验研究分析焊点的疲劳寿命,基于Wong方程结合双蠕变模型计算的疲劳寿命值和试验结果吻合良好,而基于Anand方程结合Engelmaier修正的Coffin-Mason方程计算的疲劳寿命略高于试验结果。

细间距器件焊接桥连机理探析

在选定焊膏、模板及固定焊盘的条件下,探讨了焊膏体积、焊膏接触面积、引线在焊盘上的位置、升温速率及焊接温度造成细间距器件(间距0.5 mm)焊接桥连的原因,在此基础上,分析了焊接桥连产生的机理:焊点之间是否桥连是熔融状态的焊料的表面张力、金属原子之间的金属键、焊料的重力三者共同作用的结果,当表面张力大于金属原子之间的金属键与焊料的重力的合力时,不会形成焊接桥连,当表面张力小于金属原子之间的金属键与焊料的重力的合力时,就会形成焊接桥连。

SMT细间距工艺技术研究

从ＰＣＢ设计，漏印模板设计与制造，焊膏应用以及组装工艺等方面，讨论了细间距ＳＭＴ工艺技术，提出相应的对策，这对提高细间距器件的焊接质量具有普遍意义。

细间距器件焊点力学性能与数值模拟

采用再流焊方法对细间距器件进行钎焊试验,针对使用SnAgCu和SnPb两种钎料对应的焊点进行了研究。结果表明,SnAgCu焊点的拉力明显高于SnPb焊点,说明SnAgCu对应焊点的抗拉强度更高。对焊点断口组织分析发现,SnAgCu焊点拉伸断裂方式为韧性断裂,而SnPb焊点的断裂方式兼有脆性断裂和韧性断裂的特征。运用非线性有限元模拟,针对焊点在温度循环载荷作用下的力学性能分析,发现SnAgCu焊点的应力应变以及非线性应变能明显小于SnPb焊点对应的数值。说明SnAgCu焊点的可靠性明显高于SnPb焊点。模拟结果和试验研究结果吻合,该研究为无铅钎料的进一步研究提供理论指导。

适应微节距元器件的自动化装配

随着封装和引脚数量的激增,对产品生产制造商而言,面临着新的和不断增加的压力。对于微节距元器件来说有着一系列的挑战。自动化的元器件操作设备在提高改善生产制造效率的同时,有助于确保元器件的完整性。

Simulative Design of Pad Structure for High Density Electronic Interconnection

Solder bridge is a serious defect of solder joints in ultrafine pitch electronic device assemblies. Generation of the solder bridge is closely related to forming process of the solder joints. A three-dimensional model to simulate the formation of the solder bridge of QFP256 (quad flat packaging with 256 leads) is established and numerically calculated to predict the formation shape of the solder joints using surface evolver program. Based on the model, influence of structure of pads printed on circuit board on solder bridging is investigated. The results show that there is a critical solder volume Vc for solder joints to avoid solder bridging, and parameters of the pad size influence the critical solder volume.

细间距漏印模板与焊膏

在总结本厂某产品试制工艺的基础上，就细间距的焊膏漏印模板的几种加工方法、模板开口、模板开口侧壁的形状与要求进行了比较与说明。