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基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法
1
作者
解维坤
白月芃
+1 位作者
季伟伟
王厚军
《电子与封装》
2023年第11期18-24,共7页
随着NAND Flash在存储器市场中的占比与日俱增,对NAND Flash的测试需求也越来越大。针对NAND Flash存储器中存在的故障类型进行讨论,并对现有测试算法进行分析,为提高故障覆盖率以及降低测试时间,对现有的March-like测试算法做出改进,...
随着NAND Flash在存储器市场中的占比与日俱增,对NAND Flash的测试需求也越来越大。针对NAND Flash存储器中存在的故障类型进行讨论,并对现有测试算法进行分析,为提高故障覆盖率以及降低测试时间,对现有的March-like测试算法做出改进,改进算法比March-like算法的故障覆盖率提高了16.7%,测试时间减少了30%。完成存储器内建自测试(MBIST)电路设计,设计了FPGA最小系统板并进行板级验证,结果验证了MBIST电路以及改进的测试算法的可行性。
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关键词
NAND
flash
存储器内建自测试
March-like
flash
故障类型
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职称材料
题名
基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法
1
作者
解维坤
白月芃
季伟伟
王厚军
机构
电子科技大学自动化学院
中国电子科技集团公司第五十八研究所
电子科技大学深圳高等研究院
出处
《电子与封装》
2023年第11期18-24,共7页
文摘
随着NAND Flash在存储器市场中的占比与日俱增,对NAND Flash的测试需求也越来越大。针对NAND Flash存储器中存在的故障类型进行讨论,并对现有测试算法进行分析,为提高故障覆盖率以及降低测试时间,对现有的March-like测试算法做出改进,改进算法比March-like算法的故障覆盖率提高了16.7%,测试时间减少了30%。完成存储器内建自测试(MBIST)电路设计,设计了FPGA最小系统板并进行板级验证,结果验证了MBIST电路以及改进的测试算法的可行性。
关键词
NAND
flash
存储器内建自测试
March-like
flash
故障类型
Keywords
NAND
flash
memory built-in self-test
March-like
flash fault type
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法
解维坤
白月芃
季伟伟
王厚军
《电子与封装》
2023
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职称材料
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