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pFlash故障测试算法
被引量:
3
1
作者
杨丽婷
王琴
+1 位作者
倪昊
赵子鉴
《微电子学与计算机》
北大核心
2019年第9期55-60,共6页
Flash存储器快速发展得益于便携式设备的进步,而pFlash存储器因编程电压低、功耗小并可以有效抑制带-带隧道效应而被广泛应用.由于可靠性和成本是衡量所有存储器设备性能的两个关键指标,本文提出了一种高效的pFlash故障测试算法来减小...
Flash存储器快速发展得益于便携式设备的进步,而pFlash存储器因编程电压低、功耗小并可以有效抑制带-带隧道效应而被广泛应用.由于可靠性和成本是衡量所有存储器设备性能的两个关键指标,本文提出了一种高效的pFlash故障测试算法来减小存储器的测试成本并保证其故障覆盖率.通过改变写入的测试向量以及写入的方式来准确定位pFlash存储器的故障.测试效率较于March-like算法提高了33%,且故障覆盖率仍然为100%.此算法用于开发pFlash内建自测试电路(BIST,Built-in Self Test)可以适当减少其硬件开销,用于测试机台可以减少测试时间.
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关键词
p
flash
故障
检测算法
棋盘格式向量
March-like算法
flash故障模型
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职称材料
题名
pFlash故障测试算法
被引量:
3
1
作者
杨丽婷
王琴
倪昊
赵子鉴
机构
上海交通大学电子信息与电气工程学院
中芯国际集成电路制造有限公司
出处
《微电子学与计算机》
北大核心
2019年第9期55-60,共6页
基金
自然基金(61176037)
文摘
Flash存储器快速发展得益于便携式设备的进步,而pFlash存储器因编程电压低、功耗小并可以有效抑制带-带隧道效应而被广泛应用.由于可靠性和成本是衡量所有存储器设备性能的两个关键指标,本文提出了一种高效的pFlash故障测试算法来减小存储器的测试成本并保证其故障覆盖率.通过改变写入的测试向量以及写入的方式来准确定位pFlash存储器的故障.测试效率较于March-like算法提高了33%,且故障覆盖率仍然为100%.此算法用于开发pFlash内建自测试电路(BIST,Built-in Self Test)可以适当减少其硬件开销,用于测试机台可以减少测试时间.
关键词
p
flash
故障
检测算法
棋盘格式向量
March-like算法
flash故障模型
Keywords
p
flash
fault detection algorithm
checkerboard format vector
march-like algorithm
flash
fault model
分类号
TN459 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
pFlash故障测试算法
杨丽婷
王琴
倪昊
赵子鉴
《微电子学与计算机》
北大核心
2019
3
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职称材料
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