体积CT系统中的平板探测器校正方法

在体积CT系统上通过样本实验研究了平板探测器的校正问题。提出了一种基于统计模型的平板探测器校正方法 ,详细讨论了坏像素的探测、校正矩阵的生成和原始投影图像的校正方法。校正过程包括实时的模糊和图像滞后校正、图像的标准化、增益修正和坏像素点的校正。通过样本实验研究对所提出的校正算法进行了验证 ,通过比较重建图像的信噪比对该算法的效果进行了评估。研究结果表明 :平板探测器的制造缺陷等固有噪声源将在重建图像中被增强 ,并表现为大量的条纹和环形伪影 ;通过校正后 ,重建图像中的上述伪影明显减少 ,图像质量明显改善 ,且系统的低对比度探测能力也得到相应提高。

平板探测器坏像素校正方法研究

讨论X射线系统中平板探测器的坏像素产生原因并归纳分类。研究坏像素的探测、校正矩阵的生成和对坏像素的校正方法。通过仿真模型对所提出的校正算法进行了验证,通过比较重建图像的信噪比对该算法的效果进行了评估。研究结果表明,平板探测器的制造缺陷等固有噪声源将在重建图像中被增强,并表现为大量的条纹和环形伪影;通过校正,重建图像中的上述伪影明显减少,图像质量得到改善,且系统的低对比度探测能力也得到相应提高。

合理运用DR平板探测器特性

本文通过对DR平板探测器的温度适应性、定期校准等特性的分析,说明熟练掌握并合理运用平板探测器特性,可以进一步提高影像质量、降低辐射水平、延长平板探测器使用寿命。

GE Definium 6000 DR图像白边伪影消除

当前国内医疗设备的维修由于受技术条件的制约,基本上都是由厂方采用模块化、更换整块部件或电路板进行维修,费用相对较高。而实际工作中,工程师根据掌握的资料及维修经验,可以自行检查判断,通过简单的方法将故障问题解决。例举GE Definium 6000 DR图像白边伪影故障问题,通过采用探测器校准和束光器光源位置的调整,将图像白边伪影消除,供同行参考。

非晶硅平板探测器DR成像校正方法

平板探测器的校正是获取高质量DR图像的前提,本研究针对PE0822非晶硅平板探测器开展了射线DR成像实验研究。当平板探测器预热30 min以上时,暗场图像比较稳定。根据坏像素的分类标准,实验测试识别了3 121个坏点,并制定了新的坏点位置图,最后从软件上实现了平板探测器输出图像的暗场校正、增益校正和坏像素校正。选用高压I级涡轮叶片进行DR成像实验,实验结果表明：经过暗场校正、增益校正和坏像素校正后,提高了DR图像质量,DR图像灰度介于32 000~60 000之间,且像质计灵敏度达到了胶片照相的工艺要求,可用于涡轮叶片叶身检测。

DR平板探测器图像校正方法研究

针对数字射线(digital radiography,DR)平板探测器各像元不一致造成的图像灰度值不均匀问题,建立基于统计分析的图像校正方法。以XRPad24336平板探测器为对象,首先获取原始空场图像和暗场图像,讨论基于暗场图像的偏移校正,基于空场图像灰度值中位数的增益校正方法;然后根据标准ASTM-E2597的定义,对坏像素进行标记和修正;最后以标准差信噪比(SNR)来评价图像校正后效果。经实际工件透照分析表明:原始图像经校正后,图像质量得到有效提高。该校正方法具有普遍适用性,可为其他DR平板探测器图像校正提供参考。