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铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法 被引量:11
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作者 梁淑华 范志康 《高压电器》 CAS CSCD 北大核心 2000年第3期20-21,47,共3页
阐述了CuW系触头材料制备过程中容易产生的缺陷,对每一种缺陷产生的原因进行了详细的分析,并提出了相应的控制方法。实践表明,只要严格控制工艺参数,按照工艺流程操作,完全可以避免缺陷的产生,生产出性能优良的触头材料。
关键词 铜钨系触头材料 生产 缺陷 gb8320-87
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