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成败型寿命试验──GLM和E-M算法 被引量：7
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作者 王学仁 石磊 《系统科学与数学》 CSCD 北大核心 1994年第1期29-38,共10页
成败型寿命试验──ＧＬＭ和Ｅ－Ｍ算法王学仁云南省应用数学研究所石磊（云南大学统计系，昆明６５００９１）１９９０年１０月１５日收到．１９９２年８月２４日收到修改稿．一、引言在可靠性分析中，成败型寿命试验是经常碰到的问题... 成败型寿命试验──ＧＬＭ和Ｅ－Ｍ算法王学仁云南省应用数学研究所石磊（云南大学统计系，昆明６５００９１）１９９０年１０月１５日收到．１９９２年８月２４日收到修改稿．一、引言在可靠性分析中，成败型寿命试验是经常碰到的问题．某些产品随着时间的推移，其可靠程... 展开更多
关键词 寿命试验 glm算法 可靠性 E-M算法
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