透射光栅斜入射的简易测量及研究

利用He-Ne激光器(λ=632.8 nm)、可调狭缝、透射光栅和自主改装的半圆刻度盘组合、接收屏搭建简易测量光栅斜入射的系统,精确地测量了入射光线与光栅法线夹角α(入射角)和α(入射角)变化时光栅衍射主最大和次最大的光强,并记录了光栅衍射图样(0级、1级、2级衍射亮斑),利用GSP5en软件原样描绘其衍射图样并分析了其图样和轨迹。结果显示:光栅斜入射相比正入射其光强有一定程度的增强,GSP5en软件描绘出的衍射图样和轨迹精确度高,形象明了,科学可行。无论入射角如何变化,主最大位置(零级亮斑)几乎不偏移,而其它次级的位置随着级数的增大,偏移量越多,入射角α增大时,轨迹的弯曲程度在增大。