Ga_(36.5)Sb_(63.5)熔体的电阻率—温度特性

为分析Ga36．5Sb63．5熔体电阻率的变化规律与液态结构变化的相关性，采用电阻率测试仪（RM）、X射线衍射仪（XRD）测量其电阻率及合金熔体的凝固组织。结果表明，Ga36．5Sb63．5熔体的电阻率-温度曲线在（716～730）℃温度之间出现突变，在突变区域前后温度下所得到的快速凝固组织中均含有GaSb二元相。