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MOCVD法异质外延GaP/Si薄膜的研究
1
作者
高瑛
刘学彦
+5 位作者
赵家龙
苏锡安
高鸿楷
赵星
龚平
何益民
《光电子技术》
CAS
1993年第3期47-50,共4页
微电子和光电子材料兼容的技术是未来功能器件中的一个重要方向,它可以将成熟的Si集成工艺和GaP优良的发光特性结合起来,完成新一代微型显示和集成光学元件。我们用MOCVD方法在Si衬底上异质外延GaP薄膜,通过X光双晶衍射和能谱分析,在国...
微电子和光电子材料兼容的技术是未来功能器件中的一个重要方向,它可以将成熟的Si集成工艺和GaP优良的发光特性结合起来,完成新一代微型显示和集成光学元件。我们用MOCVD方法在Si衬底上异质外延GaP薄膜,通过X光双晶衍射和能谱分析,在国内用MOCVD方法首次获得了GaP/Si的单晶薄层,并研究了它们的结构特性。
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关键词
gap/si薄膜
MOCVD法
结构特性
薄膜
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职称材料
题名
MOCVD法异质外延GaP/Si薄膜的研究
1
作者
高瑛
刘学彦
赵家龙
苏锡安
高鸿楷
赵星
龚平
何益民
机构
中国科学院长春物理所
中国科学院西安光机所
出处
《光电子技术》
CAS
1993年第3期47-50,共4页
基金
国家自然科学基金
中国科学院长春物理所激发态物理开放实验室基金
文摘
微电子和光电子材料兼容的技术是未来功能器件中的一个重要方向,它可以将成熟的Si集成工艺和GaP优良的发光特性结合起来,完成新一代微型显示和集成光学元件。我们用MOCVD方法在Si衬底上异质外延GaP薄膜,通过X光双晶衍射和能谱分析,在国内用MOCVD方法首次获得了GaP/Si的单晶薄层,并研究了它们的结构特性。
关键词
gap/si薄膜
MOCVD法
结构特性
薄膜
Keywords
gap/
si
film, MOCVD, structural properties
分类号
TN304.054 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
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作者
出处
发文年
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1
MOCVD法异质外延GaP/Si薄膜的研究
高瑛
刘学彦
赵家龙
苏锡安
高鸿楷
赵星
龚平
何益民
《光电子技术》
CAS
1993
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