江阴高城墩遗址出土良渚文化玉器的无损分析研究

为判断江阴高城墩遗址出土良渚文化玉器的地质成因和产地,利用外束质子激发X荧光技术(PIXE)、X射线衍射(XRD)、激光拉曼光谱(LRS)等无损分析技术对出土玉器进行了化学成分、矿物学特征分析。实验结果显示,46件玉器中67.4%的样品主要矿物组成为透闪石,玉料的质量较好,可能来自同一种成矿类型的矿床。研究表明无损伤分析技术是古代玉器研究的有效手段。研究结果为探索良渚文化遗址出土玉器的玉料来源提供了科学证据。