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VLSI冗余单元最优分配的遗传算法求解
被引量:
2
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作者
赵天绪
郝跃
周水生
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2001年第1期96-99,共4页
随着VLSI芯片面积的增加和电路复杂性的增强,芯片的成品率受制造缺陷影响的概率逐渐增加。为了解决这一问题,人们将容错技术结合入集成电路设计中。要使一个系统具有较强的容错能力,必须给系统提供一定量冗余单元。本文利用遗传算法有...
随着VLSI芯片面积的增加和电路复杂性的增强,芯片的成品率受制造缺陷影响的概率逐渐增加。为了解决这一问题,人们将容错技术结合入集成电路设计中。要使一个系统具有较强的容错能力,必须给系统提供一定量冗余单元。本文利用遗传算法有效地解决了使系统成品率达到最大的冗余单元最优分配问题。
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关键词
遗传算法
最优分配
VLSI
冗余单元
集成电路
下载PDF
职称材料
题名
VLSI冗余单元最优分配的遗传算法求解
被引量:
2
1
作者
赵天绪
郝跃
周水生
机构
西安电子科技大学微电子所
出处
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2001年第1期96-99,共4页
基金
国家部级基金
863高科技基金
文摘
随着VLSI芯片面积的增加和电路复杂性的增强,芯片的成品率受制造缺陷影响的概率逐渐增加。为了解决这一问题,人们将容错技术结合入集成电路设计中。要使一个系统具有较强的容错能力,必须给系统提供一定量冗余单元。本文利用遗传算法有效地解决了使系统成品率达到最大的冗余单元最优分配问题。
关键词
遗传算法
最优分配
VLSI
冗余单元
集成电路
Keywords
genetic algorithm
,
yield
,
spare element
,
fault-tolerant ability
分类号
TN470.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
VLSI冗余单元最优分配的遗传算法求解
赵天绪
郝跃
周水生
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2001
2
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职称材料
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