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VLSI冗余单元最优分配的遗传算法求解 被引量:2
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作者 赵天绪 郝跃 周水生 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2001年第1期96-99,共4页
随着VLSI芯片面积的增加和电路复杂性的增强,芯片的成品率受制造缺陷影响的概率逐渐增加。为了解决这一问题,人们将容错技术结合入集成电路设计中。要使一个系统具有较强的容错能力,必须给系统提供一定量冗余单元。本文利用遗传算法有... 随着VLSI芯片面积的增加和电路复杂性的增强,芯片的成品率受制造缺陷影响的概率逐渐增加。为了解决这一问题,人们将容错技术结合入集成电路设计中。要使一个系统具有较强的容错能力,必须给系统提供一定量冗余单元。本文利用遗传算法有效地解决了使系统成品率达到最大的冗余单元最优分配问题。 展开更多
关键词 遗传算法 最优分配 VLSI 冗余单元 集成电路
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