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Optical Methods in Orientation of High-Purity Germanium Crystal
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作者 Guojian Wang Yongchen Sun +4 位作者 Yutong Guan Dongming Mei Gang Yang Angela Alanson Chiller Bruce Gray 《Journal of Crystallization Process and Technology》 2013年第2期60-63,共4页
Two optical methods, namely crystal facet reflection and etching pits reflection, were used to orient and high-purity germanium crystals. The X-ray diffraction patterns of three slices that were cut from the oriented ... Two optical methods, namely crystal facet reflection and etching pits reflection, were used to orient and high-purity germanium crystals. The X-ray diffraction patterns of three slices that were cut from the oriented and crystals were measured by X-ray diffraction. The experimental errors of crystal facet reflection method and etching pits reflection method are in the range of 0.05° - 0.12°. The crystal facet reflection method and etching pits reflection method are extremely simple and cheap and their accuracies are acceptable for characterizing high purity detector-grade germanium crystals. 展开更多
关键词 REFLECTION METHOD HIGH-PURITY germanium crystal
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Indentation size effect of germanium single crystal with different crystal orientations 被引量:6
2
作者 Ning LIU Xiao-jing YANG +1 位作者 Zheng YU Lei ZHAO 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2020年第1期181-190,共10页
In order to study the indentation size effect(ISE)of germanium single crystals,nano-indentation experiments were carried out on the(100),(110)and(111)plane-orientated germanium single crystals.The true hardness of eac... In order to study the indentation size effect(ISE)of germanium single crystals,nano-indentation experiments were carried out on the(100),(110)and(111)plane-orientated germanium single crystals.The true hardness of each crystal plane of germanium single crystals was calculated based on the Meyer equation,proportional sample resistance(PSR)model and Nix-Gao model,and the indentation size effect(ISE)factor of each crystal plane was calculated.Results show that,the germanium single crystals experience elastic deformation,plastic deformation and brittle fracture during the loading process,and the three crystal planes all show obvious ISE phenomenon.All three models can effectively describe the ISE of germanium single crystals,and the calculated value of Nix-Gao model is the most accurate.Compared with the other two crystal planes,Ge(110)has the highest size effect factor m and the highest hardness,which indicates that Ge(110)has the worst plasticity. 展开更多
关键词 germanium single crystal indentation size effect Meyer equation proportional sample resistance(PSR)model Nix-Gao model
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High Purity Germanium, a Review on Principle Theories and Technical Production Methodologies 被引量:3
3
作者 Danilo C. Curtolo Semiramis Friedrich Bernd Friedrich 《Journal of Crystallization Process and Technology》 2017年第4期65-84,共20页
Since the early 1950’s the use of Germanium has been continuously growing as new applications are being developed. Its first commercial usage as the main material, from which the semiconductors were made, was later r... Since the early 1950’s the use of Germanium has been continuously growing as new applications are being developed. Its first commercial usage as the main material, from which the semiconductors were made, was later replaced by Silicon. The applications were then shifted to a key component in fiber optics, infrared night vision devices and space solar cells, as well as a polymerization catalyst for polyethylene terephthalate (PET). With the advance development in new technologies, the attentions have been brought back to Germanium due to its excellent semiconductor properties. New applications on the field of high efficiency solar cells, SiGe based chips, LED technologies, etc., are being developed and show a great potential. According to DERA (Deutsche Rohstoffagentur/German Mineral Resources Agency), the demand for Ge will grow considerably by 2030, pushed mostly by the increase in the fiber optics market and advanced materials sector [1]. Therefore, this paper focuses on an overview of the production chain of Germanium, especially from its concentrate up to the single crystal growth of its valuable ultra-pure metallic form to be used in high technological applications. 展开更多
关键词 germanium Fractional crystalLIZATION crystalLIZATION REFINING High PURITY Zone MELTING CZOCHRALSKI
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Crystal Structure of O,O-Diethyl-α-(β-triphenylgermanyl)-propionoyloxy Methylphosphonate
4
作者 Chen Ru-Yu Mao Li-Juan +1 位作者 Liu Ai-Lin(Institute of Elemento-Organic Chemistry, Nankai University,Tianjin 300071) Wang Ru-Ji Wang Hong-Gen (Central Laboratory, Nankai University,Tianjin 300071) 《Chinese Journal of Structural Chemistry》 SCIE CAS CSCD 1995年第6期25-28,共4页
C<sub>2</sub>6H<sub>3</sub>1GeO<sub>5</sub>P is monoclinic,space group P2<sub>1</sub>/c,a=14.287(4),b=8.045(2),c=23.381(6),β=103.79(2)°,V=2622.7,Mr=527.10,... C<sub>2</sub>6H<sub>3</sub>1GeO<sub>5</sub>P is monoclinic,space group P2<sub>1</sub>/c,a=14.287(4),b=8.045(2),c=23.381(6),β=103.79(2)°,V=2622.7,Mr=527.10,Z=4,Dx=1.34g/cm3,μ=12.4cm.F(000)=1096.The final R=0.051 and R<sub>w</sub>=0.057 for 2446 observed unique reflections[I≥3σ(I).The results indicated that all non-hydrogen atoms between phosphorus and germanium in the title compound were located almost in coplane with farthest deviation of atom Ge defined by 0. 3657.The values of Ge-C(phenyl) and Ge-C(alkyl) bond distance are 1.938(5),1.945(5) and 1.976(5),respectively. 展开更多
关键词 crystal structure α-hydroxy phosphonate derivative organic germanium antitumor agents
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13N超高纯锗单晶的制备与性能研究
5
作者 顾小英 赵青松 +4 位作者 牛晓东 狄聚青 张家瑛 肖溢 罗恺 《人工晶体学报》 CAS 北大核心 2024年第3期497-502,共6页
13N超高纯锗单晶是制作超高纯锗探测器的核心材料。本文通过还原法获得还原锗锭,再由水平区熔法提纯获得12N高纯锗多晶,最后由直拉法生长得到13N超高纯锗单晶。通过低温霍尔测试、位错密度检测、深能级瞬态谱(DLTS)测试对13N超高纯锗单... 13N超高纯锗单晶是制作超高纯锗探测器的核心材料。本文通过还原法获得还原锗锭,再由水平区熔法提纯获得12N高纯锗多晶,最后由直拉法生长得到13N超高纯锗单晶。通过低温霍尔测试、位错密度检测、深能级瞬态谱(DLTS)测试对13N超高纯锗单晶性能进行分析。低温霍尔测试结果显示,晶体头部截面平均迁移率为4.515×10^(4)cm^(2)·V^(-1)·s^(-1),载流子浓度为1.176×10^(10)cm^(-3),导电类型为p型,位错密度为2256 cm^(-2);尾部截面平均迁移率为4.620×10^(4)cm^(2)·V^(-1)·s^(-1),载流子浓度为1.007×10^(10)cm^(-3),导电类型为p型,位错密度为2589 cm^(-2)。晶体深能级杂质浓度为1.843×10^(9)cm^(-3)。以上结果表明该晶体是13N超高纯锗单晶。 展开更多
关键词 锗单晶 探测器 迁移率 载流子浓度 位错密度
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单晶锗各向异性力学性能实验 被引量:9
6
作者 杨晓京 刘艳荣 +1 位作者 杨小江 方聪聪 《农业机械学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第5期322-326,共5页
通过纳米压痕实验对单晶锗(100)、(110)、(111)晶面进行各向异性力学性能的分析研究。根据纳米压痕过程中获得的载荷-位移曲线并结合Oliver-Pharr理论对材料的弹性模量和硬度进行考察。实验结果表明:单晶锗在纳米压痕过程中发生明显的... 通过纳米压痕实验对单晶锗(100)、(110)、(111)晶面进行各向异性力学性能的分析研究。根据纳米压痕过程中获得的载荷-位移曲线并结合Oliver-Pharr理论对材料的弹性模量和硬度进行考察。实验结果表明:单晶锗在纳米压痕过程中发生明显的塑性变形,并且(110)晶面塑性最好,(100)晶面其次,(111)晶面塑性最差;硬度与弹性模量变化趋势相一致,在压入深度较小时,材料受表面效应的影响,硬度和弹性模量发生明显波动,而且由于单晶锗各个晶面上的原子密度以及晶面间距有较大的差异,单晶锗表现出稳定的各向异性,硬度和弹性模量大小依次为:(111)晶面、(110)晶面、(100)晶面。随着压入深度增加,硬度和弹性模量逐渐趋于稳定,大小依次为:(110)晶面、(100)晶面、(111)晶面。 展开更多
关键词 单晶锗 纳米压痕 晶面 各向异性 硬度 弹性模量
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锗晶体放电加工特性及进电方式研究 被引量:3
7
作者 刘志东 邱明波 +2 位作者 汪炜 田宗军 黄因慧 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第5期177-182,共6页
研究N型锗晶体放电加工中体现的单向导通性、表面电化学现象以揭示其特殊放电加工特征。试验发现N型锗晶体放电加工无法持续,其主要原因是进电接触面产生电解并生成不导电、不溶解的氧化物且阻塞在进电接触面缝隙内。为避免在进电接触... 研究N型锗晶体放电加工中体现的单向导通性、表面电化学现象以揭示其特殊放电加工特征。试验发现N型锗晶体放电加工无法持续,其主要原因是进电接触面产生电解并生成不导电、不溶解的氧化物且阻塞在进电接触面缝隙内。为避免在进电接触区产生电解,设计表面涂覆碳浆进电法;为避免进电接触区产生不导电、不溶解氧化物,设计了电极随动进电法,并对这两种进电方式进行试验比较。结果表明,前者可以在一定时间内改善N型锗晶体进电,但仍不能达到长期稳定进电的效果,而后者则可以保障极间获得稳定和较小的极间电阻及持续稳定的进电效果。通过放电切割试验初步揭示半导体材料放电加工体现的放电期间电流爬坡上升、放电蚀除以热应力蚀除为主、极性效应需要进行拓展性解释等特殊的半导体材料放电加工特性。 展开更多
关键词 锗晶体 半导体 放电加工 进电方式 随动进电
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一种高效的锗单晶抛光片清洗液 被引量:6
8
作者 杨洪星 陈晨 +2 位作者 王云彪 何远东 耿莉 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2016年第2期129-132,共4页
以锗(Ge)单晶片为衬底制备的太阳电池,具有较好的光电转换效率,因而使Ge材料再次受到广泛关注。Ge单晶片表面的均匀性对外延结果有着较大影响,基于改善Ge单晶片表面均匀性的目的,引入一种H2O2,HF和去离子水的混合液作为Ge片的清洗液,以... 以锗(Ge)单晶片为衬底制备的太阳电池,具有较好的光电转换效率,因而使Ge材料再次受到广泛关注。Ge单晶片表面的均匀性对外延结果有着较大影响,基于改善Ge单晶片表面均匀性的目的,引入一种H2O2,HF和去离子水的混合液作为Ge片的清洗液,以雾值、表面粗糙度和表面颗粒度作为Ge单晶片表面均匀性的评价指标。通过Ge单晶片清洗实验,确定清洗液配比、清洗时间的较优组合。在优化后的清洗条件下,Ge单晶抛光片的雾值为2.33×10-8,表面粗糙度为0.16 nm,Ge单晶片的表面质量满足电池制作的要求。该清洗液清洗效果好,操作简便,是Ge单晶抛光片的一种较理想清洗液。 展开更多
关键词 锗(Ge)单晶 表面清洗 表面粗糙度 雾值 抛光片
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p型Ge单晶VGF生长位错抑制研究 被引量:4
9
作者 周春锋 兰天平 周传新 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2016年第2期138-142,共5页
垂直梯度凝固(VGF)法在单晶生长时温度梯度低,热应力小,是目前制备大尺寸、低缺陷晶体的首选方法。在不同的工艺条件下开展了p型VGF锗单晶生长实验研究。通过控制不同温区的温度和降温速率来减小生长温度梯度和晶体内部的应力。在保证VG... 垂直梯度凝固(VGF)法在单晶生长时温度梯度低,热应力小,是目前制备大尺寸、低缺陷晶体的首选方法。在不同的工艺条件下开展了p型VGF锗单晶生长实验研究。通过控制不同温区的温度和降温速率来减小生长温度梯度和晶体内部的应力。在保证VGF锗单晶成晶率的前提下,明显降低了锗单晶的位错密度和位错排的数量。研究发现,温度梯度在2~3℃·cm^(-1)内可保证单晶生长且使4英寸(1英寸=2.54 cm)锗单晶片平均位错密度降低到3 000 cm^(-2)以下。此外对VGF法生长锗单晶表面沟槽的形成原因进行了分析研究。 展开更多
关键词 P型 锗单晶 垂直梯度凝固(VGF) 位错 位错排
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单晶锗各向异性对加工表面粗糙度的影响 被引量:12
10
作者 苗实 史国权 +1 位作者 石广丰 蔡洪彬 《机械科学与技术》 CSCD 北大核心 2017年第1期89-94,共6页
为了减少锗组件加工时易发生断裂破坏和加工表面质量不均一问题,从单晶锗结构的各向异性特征出发,研究了单晶锗材料解理面和滑移面上的应力变化;给出晶体取向对切屑脆-韧去除方式影响程度的判据;建立了单晶锗任意晶面的解理面和滑移面... 为了减少锗组件加工时易发生断裂破坏和加工表面质量不均一问题,从单晶锗结构的各向异性特征出发,研究了单晶锗材料解理面和滑移面上的应力变化;给出晶体取向对切屑脆-韧去除方式影响程度的判据;建立了单晶锗任意晶面的解理面和滑移面上应力计算模型;分析了单晶锗车削表面粗糙度以及切削力的各向异性分布规律。并对典型晶面及任意晶面的切屑脆-韧去除方式和晶向之间关系进行了计算。通过切削试验,验证了模型和判据的正确性。 展开更多
关键词 单晶锗 表面粗糙度 各向异性 应力变化
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退火对锗单晶导电性能的影响 被引量:5
11
作者 王思爱 苏小平 +1 位作者 冯德伸 尹士平 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第4期511-514,共4页
退火工艺对锗单晶的导电性能有很大的影响。退火温度超过550℃会导致N型锗单晶电阻率升高,750℃以上温度退火甚至会发生N型锗单晶的导电型号变为P型。同时,退火温度超过550℃会导致锗单晶电阻率径向分布均匀性变差,这是Cu杂质与晶体缺... 退火工艺对锗单晶的导电性能有很大的影响。退火温度超过550℃会导致N型锗单晶电阻率升高,750℃以上温度退火甚至会发生N型锗单晶的导电型号变为P型。同时,退火温度超过550℃会导致锗单晶电阻率径向分布均匀性变差,这是Cu杂质与晶体缺陷共同作用的结果。 展开更多
关键词 锗单晶 退火 导电型号 电阻率
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高纯锗能谱仪系统研制 被引量:2
12
作者 何高魁 孙慧斌 +17 位作者 郝晓勇 刘义保 代传波 邓长明 王柱 廖辉 汪天照 胡世鹏 邵俊琪 张怀强 刘海峰 杨松 贾伟强 厉文聪 刘洋 阙子昂 田华阳 张向阳 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2021年第1期55-61,共7页
介绍了高纯锗能谱仪系统的研制。项目突破了探测器级高纯锗单晶提纯、高纯锗探测器表面钝化保护、高计数率数字化多道分析器以及无源效率刻度等关键技术,研制出高纯锗能谱仪系统样机。开展了高纯锗能谱仪在核燃料包壳破损在线监测、中... 介绍了高纯锗能谱仪系统的研制。项目突破了探测器级高纯锗单晶提纯、高纯锗探测器表面钝化保护、高计数率数字化多道分析器以及无源效率刻度等关键技术,研制出高纯锗能谱仪系统样机。开展了高纯锗能谱仪在核燃料包壳破损在线监测、中高放射性废物桶核素源项无损检测和材料点缺陷特性分析示范应用研究。性能测试表明:85%探测效率的能谱仪的能量分辨率为1.98keV(1.33 MeV伽马射线),峰康比好于61。 展开更多
关键词 高纯锗单晶 高纯锗探测器 离子注入 多道分析器
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用飞切法加工光学晶体平面镜 被引量:4
13
作者 史国权 仇健 +3 位作者 于骏一 马文生 韩荣久 黄巍 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第3期73-77,共5页
从单晶锗光学晶体结构入手,深入分析了光学晶体材料切屑切除与晶体结构方位的关系,确定了材料产生剪切滑移的最佳晶向,据此提出了在这些晶向上对单晶锗进行飞切加工的新工艺,从而有效地消除了已加工表面断裂破坏区,获得了表面粗糙... 从单晶锗光学晶体结构入手,深入分析了光学晶体材料切屑切除与晶体结构方位的关系,确定了材料产生剪切滑移的最佳晶向,据此提出了在这些晶向上对单晶锗进行飞切加工的新工艺,从而有效地消除了已加工表面断裂破坏区,获得了表面粗糙度0.007~0.009均匀一致的光滑表面。 展开更多
关键词 单晶锗 光学晶体 飞切加工 表面粗糙度
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β-羧乙基(或α-甲基乙基)锗三氯化物晶体和分子结构及其质谱分析 被引量:2
14
作者 上官国强 张树功 +2 位作者 金钟声 刘淑莹 倪嘉缵 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 1991年第2期223-226,共4页
有机锗化合物的抗癌等广泛生物活性已引起人们对其研究的兴趣。β-羰乙基锗倍半氧化物(Ge-132)的生物活性已有广泛研究,对其衍生物合成及性质研究亦受到重视。作为合成这类衍生物的中间体,β-羧烃基锗三氯化物的结构和性质报道较少。我... 有机锗化合物的抗癌等广泛生物活性已引起人们对其研究的兴趣。β-羰乙基锗倍半氧化物(Ge-132)的生物活性已有广泛研究,对其衍生物合成及性质研究亦受到重视。作为合成这类衍生物的中间体,β-羧烃基锗三氯化物的结构和性质报道较少。我们制备了两种β-羧烷基锗三氯化物晶体,测定了其晶体和分子结构,研究了质谱裂解机理,讨论了结构和性质问的关系。 展开更多
关键词 有机锗化合物 晶体结构 分子结构
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基于分子动力学单晶锗的纳米压痕特性分析 被引量:6
15
作者 毛杰伟 刘文浩 王增鹏 《纳米技术与精密工程》 CAS CSCD 北大核心 2015年第6期454-457,共4页
单晶锗属于硬脆性光学半导体材料,加工时易产生裂纹和凹坑等缺陷,严重影响其表面质量.为了达到纳米级的表面质量,本文采用分子动力学模拟从不同晶面和晶向对单晶锗进行纳米压痕分析,在纳米尺度下对其进行压痕加载和卸载,分析该过程中载... 单晶锗属于硬脆性光学半导体材料,加工时易产生裂纹和凹坑等缺陷,严重影响其表面质量.为了达到纳米级的表面质量,本文采用分子动力学模拟从不同晶面和晶向对单晶锗进行纳米压痕分析,在纳米尺度下对其进行压痕加载和卸载,分析该过程中载荷的变化情况,得到弹性模量的变化差异.结果表明,加载前后弹性模量差异小的单晶锗(111)晶面可以作为实际生产中的加工面,从而获得高质量的加工表面. 展开更多
关键词 单晶锗 超精密 压痕特性 分子动力学 仿真
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利用纳米压痕法研究单晶锗的力学行为 被引量:4
16
作者 杨晓京 赵彪 +1 位作者 李勇 李明 《热加工工艺》 CSCD 北大核心 2016年第16期80-83,共4页
利用纳米压痕仪和原子力显微镜对单晶锗(100)晶面进行纳米压痕试验。通过载荷-压深曲线和弹性回复率的变化情况对材料的变形机理以及硬度和弹性模量进行研究。结果表明:单晶锗(100)晶面在不同的压入深度下分别经历了弹性变形、塑性变形... 利用纳米压痕仪和原子力显微镜对单晶锗(100)晶面进行纳米压痕试验。通过载荷-压深曲线和弹性回复率的变化情况对材料的变形机理以及硬度和弹性模量进行研究。结果表明:单晶锗(100)晶面在不同的压入深度下分别经历了弹性变形、塑性变形和脆性断裂;载荷-压深曲线中出现明显的突进和突退现象,该现象与材料的内部结构发生相变密切相关;单晶锗(100)晶面存在明显的压痕尺寸效应。该材料弹性模量的变化趋势与硬度相一致。 展开更多
关键词 单晶锗 纳米压痕 相变 硬度 弹性模量
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新型杂多配合物K_3H_2[GeW_8Mo_3VO_(40)]·4H_2O的合成与晶体结构 被引量:3
17
作者 吴庆银 王晓芳 宋玉林 《高等学校化学学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第6期934-937,共4页
用分步酸化、分步加料法合成出新型杂多配合物K3H2[GeW8Mo3VO40]·4H2O,并用X射线单晶衍射法测定其晶体结构.该晶体属单斜晶系,C2空间群,a=1.8944(4)nm,b=3.2920(7)nm,c... 用分步酸化、分步加料法合成出新型杂多配合物K3H2[GeW8Mo3VO40]·4H2O,并用X射线单晶衍射法测定其晶体结构.该晶体属单斜晶系,C2空间群,a=1.8944(4)nm,b=3.2920(7)nm,c=1.2494(2)nm,β=90.25(3)°,V=7.792(4)nm3,Z=6.最终偏差因子R=0.063,RW=0.067. 展开更多
关键词 杂多配合物 配合物 晶体结构
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锗声光调制器内热特性研究 被引量:4
18
作者 宗德蓉 罗斌 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2001年第3期62-64,共3页
利用锗单晶作为声光互作用介质 ,研制出了用于 CO2 激光器的声光开关器。主要讨论和分析了锗声光器件中出现的光吸收现象及其与温度的关系 ,尤其是换能器损耗所引起的热源。还讨论了在恒定光功率时具有不同电阻率的锗材料的吸收系数和... 利用锗单晶作为声光互作用介质 ,研制出了用于 CO2 激光器的声光开关器。主要讨论和分析了锗声光器件中出现的光吸收现象及其与温度的关系 ,尤其是换能器损耗所引起的热源。还讨论了在恒定光功率时具有不同电阻率的锗材料的吸收系数和温度的关系 。 展开更多
关键词 声光调制器 锗单晶 光吸收 热特性
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火焰水解法制备硅基二氧化硅材料的析晶研究 被引量:2
19
作者 郜定山 李建光 +4 位作者 安俊明 李健 夏君磊 王红杰 胡雄伟 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2004年第6期496-498,共3页
 用火焰水解法在硅基片上制备了掺杂GeO2和B2O3的SiO2光波导材料。用X射线物相衍射法(XRD)分析了掺杂和烧结工艺对材料的析晶现象的影响。结果表明,当烧结时采取自然降温,GeO2 SiO2材料由于严重析晶而完全碎裂;而当烧结后期采取快速降...  用火焰水解法在硅基片上制备了掺杂GeO2和B2O3的SiO2光波导材料。用X射线物相衍射法(XRD)分析了掺杂和烧结工艺对材料的析晶现象的影响。结果表明,当烧结时采取自然降温,GeO2 SiO2材料由于严重析晶而完全碎裂;而当烧结后期采取快速降温,析晶过程受到很大抑制,但仍有析晶。在此GeO2 SiO2材料中掺入适量的B2O3后,得到了完全非晶态的GeO2 B2O3 SiO2材料,但B2O3掺入量过多时,又会导致析晶。 展开更多
关键词 火焰水解 二氧化硅 析晶 二氧化锗 三氧化二硼
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巨磁热效应材料Gd_5Si_xGe_(4-x)三元合金的制备及晶体结构 被引量:1
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作者 李卓棠 吴佩芳 +1 位作者 张晓燕 潘璋敏 《上海大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 2000年第1期35-38,43,共5页
三元合金 Gd5Six Ge4- x是一种具有巨磁热效应的材料 .作者用熔炼法在氩气气氛中合成了四种 Gd5Six Ge4- x样品 (其中 x =4 ,3 .2 ,2 .16,2 ) .粉末 X射线衍射结果表明 ,当 4≥ x >2时 Gd5Six Ge4- x为正交晶体 ;当 x =2时Gd5Si2 Ge2... 三元合金 Gd5Six Ge4- x是一种具有巨磁热效应的材料 .作者用熔炼法在氩气气氛中合成了四种 Gd5Six Ge4- x样品 (其中 x =4 ,3 .2 ,2 .16,2 ) .粉末 X射线衍射结果表明 ,当 4≥ x >2时 Gd5Six Ge4- x为正交晶体 ;当 x =2时Gd5Si2 Ge2 畸变成单斜晶体 .随着 Ge量的增加 ,晶胞参数及单胞体积都随之增加 . 展开更多
关键词 钆-硅-锗合金 晶体结构 制备 巨磁热效应材料
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