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同位素质谱仪测定水中δ^2H和δ^18O值的检测方法研究
1
作者
李会
靳静静
+3 位作者
聂俊峰
杨宝平
徐毅
丁瑞霞
《分析仪器》
CAS
2020年第6期106-110,共5页
为准确检测液态水中稳定性同位素δ^2 H和δ^18 O值,对元素分析仪-同位素比质谱仪联用技术(EAIRMS)测定水中稳定性氢氧同位素的方法进行了研究。结果表明,该方法对氢氧同位素标准水样测定精度良好,稳定性氢同位素的标准偏差小于为0.52‰...
为准确检测液态水中稳定性同位素δ^2 H和δ^18 O值,对元素分析仪-同位素比质谱仪联用技术(EAIRMS)测定水中稳定性氢氧同位素的方法进行了研究。结果表明,该方法对氢氧同位素标准水样测定精度良好,稳定性氢同位素的标准偏差小于为0.52‰,稳定性氧同位素的标准偏差小于0.09‰。氢氧同位素标准水样的δ^2 H和δ^18 O的测量值与标准值之间达到显著相关,R^2=1。测得水样样品的δ^2 H值范围为-26.06‰^-71.53‰,δ^18 O值范围为-2.84‰^-11.21‰。试验结果为研究不同类型水中稳定性氢氧同位素差异提供了可靠的技术支撑。
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关键词
^
δ^
2
h
和δ^
18
o
值测定
元素分析仪-同位素比质谱仪联用技术
稳定性同位素
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职称材料
同位素示踪法研究铜薄膜在水汽中的氧化传质机理
2
作者
曹思
龚佳
+2 位作者
钟澄
李劲
蒋益明
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第7期774-778,共5页
采用H126O/H128O接续氧化并结合同位素示踪方法,研究了铜薄膜在水汽中氧化的传质机理.将真空热蒸发制备的铜薄膜样品,分别在H126O,H218O中以及H216O/H128O接续进行氧化处理;利用X射线衍射(XRD)研究了氧化产物的形态和结构;并用二次离子...
采用H126O/H128O接续氧化并结合同位素示踪方法,研究了铜薄膜在水汽中氧化的传质机理.将真空热蒸发制备的铜薄膜样品,分别在H126O,H218O中以及H216O/H128O接续进行氧化处理;利用X射线衍射(XRD)研究了氧化产物的形态和结构;并用二次离子质谱仪(SIMS)研究了同位素18O与16O在氧化膜中的浓度分布.结果表明铜在水蒸汽中湿法氧化产物为Cu2O,微观氧化传质机理为短路扩散机理.
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关键词
同位素示踪
短路扩散
铜薄膜
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h
2
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o
原文传递
题名
同位素质谱仪测定水中δ^2H和δ^18O值的检测方法研究
1
作者
李会
靳静静
聂俊峰
杨宝平
徐毅
丁瑞霞
机构
西北农林科技大学农学院
西北农林科技大学中国旱区节水农业研究院
艾力蒙塔贸易(上海)有限公司
出处
《分析仪器》
CAS
2020年第6期106-110,共5页
文摘
为准确检测液态水中稳定性同位素δ^2 H和δ^18 O值,对元素分析仪-同位素比质谱仪联用技术(EAIRMS)测定水中稳定性氢氧同位素的方法进行了研究。结果表明,该方法对氢氧同位素标准水样测定精度良好,稳定性氢同位素的标准偏差小于为0.52‰,稳定性氧同位素的标准偏差小于0.09‰。氢氧同位素标准水样的δ^2 H和δ^18 O的测量值与标准值之间达到显著相关,R^2=1。测得水样样品的δ^2 H值范围为-26.06‰^-71.53‰,δ^18 O值范围为-2.84‰^-11.21‰。试验结果为研究不同类型水中稳定性氢氧同位素差异提供了可靠的技术支撑。
关键词
^
δ^
2
h
和δ^
18
o
值测定
元素分析仪-同位素比质谱仪联用技术
稳定性同位素
Keywords
^
δ^
2
h
andδ^
18
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values determinati
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n
Element analyzer-is
o
t
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mass spectr
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meter
Stable is
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pe
分类号
X832 [环境科学与工程—环境工程]
O657.63 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
同位素示踪法研究铜薄膜在水汽中的氧化传质机理
2
作者
曹思
龚佳
钟澄
李劲
蒋益明
机构
复旦大学材料科学系
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第7期774-778,共5页
基金
国家自然科学基金(批准号:50871031
50701010)
+1 种基金
上海市自然科学基金(批准号:09ZR1402600)
上海市基础研究重点项目(批准号:09JC1401600)资助的课题~~
文摘
采用H126O/H128O接续氧化并结合同位素示踪方法,研究了铜薄膜在水汽中氧化的传质机理.将真空热蒸发制备的铜薄膜样品,分别在H126O,H218O中以及H216O/H128O接续进行氧化处理;利用X射线衍射(XRD)研究了氧化产物的形态和结构;并用二次离子质谱仪(SIMS)研究了同位素18O与16O在氧化膜中的浓度分布.结果表明铜在水蒸汽中湿法氧化产物为Cu2O,微观氧化传质机理为短路扩散机理.
关键词
同位素示踪
短路扩散
铜薄膜
^
h
2
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18
o
Keywords
^
is
o
t
o
pic labeling, s
h
o
rt circuit diffusi
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n, c
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pper t
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in film,
h
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18
2
o
分类号
O484.41 [理学—固体物理]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
同位素质谱仪测定水中δ^2H和δ^18O值的检测方法研究
李会
靳静静
聂俊峰
杨宝平
徐毅
丁瑞霞
《分析仪器》
CAS
2020
0
下载PDF
职称材料
2
同位素示踪法研究铜薄膜在水汽中的氧化传质机理
曹思
龚佳
钟澄
李劲
蒋益明
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011
0
原文传递
已选择
0
条
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引用分析
参考文献
引证文献
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