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H2Se气态硒化后退火温度对CIGS薄膜中Ga再分布的影响
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作者 黄勇亮 孟凡英 +2 位作者 沈文忠 吴敏 刘正新 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第9期2585-2590,共6页
采用H2Se气体在400℃下对溅射的Cu-In-Ga金属预制层进行硒化处理制备CIGS薄膜,然后采用原位退火的方法改善Ga元素在CIGS薄膜内的纵向分布和薄膜内的晶粒尺寸,研究退火温度对CIGS薄膜表面Ga元素含量和结晶性的影响。CIGS薄膜中Ga元素... 采用H2Se气体在400℃下对溅射的Cu-In-Ga金属预制层进行硒化处理制备CIGS薄膜,然后采用原位退火的方法改善Ga元素在CIGS薄膜内的纵向分布和薄膜内的晶粒尺寸,研究退火温度对CIGS薄膜表面Ga元素含量和结晶性的影响。CIGS薄膜中Ga元素的分布决定薄膜的禁带宽度和太阳电池的开路电压,通过优化退火温度,CIGS太阳电池的转换效率相对增益达到20%,最终达到14.39%的转换效率和590mV的开路电压。 展开更多
关键词 h2se硒化 退火温度 Ga再分布 晶粒生长 CIGS薄膜
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