氢化物发生-原子荧光光谱法同时测定焙烧氧化钼中铋和锑

介绍用氢化物发生－原子荧光光谱法测定氧化钼中铋和锑时，可不分离基体钼。本法简便快速，结果令人满意。检测限Ｂｉ０．４８ｎｇ／ｍｌ，Ｓｂ０．４６ｎｇ／ｍｌ；相对标准偏差ＲＳＤＢｉ２．９％，Ｓｂ４．９％；在０～０．０８０μｇ／ｍｌ范围内的Ｂｉ。