期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
全新可升级ATE保障未来三代器件需求
1
作者
丛秋波
《电子设计技术 EDN CHINA》
2010年第9期17-17,共1页
存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型ATE解决方案。
关键词
V93000
hsm3g
DDR4
存储器测试
VERIGY
原文传递
题名
全新可升级ATE保障未来三代器件需求
1
作者
丛秋波
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2010年第9期17-17,共1页
文摘
存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型ATE解决方案。
关键词
V93000
hsm3g
DDR4
存储器测试
VERIGY
分类号
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
全新可升级ATE保障未来三代器件需求
丛秋波
《电子设计技术 EDN CHINA》
2010
0
原文传递
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部