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多功能数字芯片测试仪的设计与应用
被引量:
8
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作者
肖宝森
《实验技术与管理》
CAS
北大核心
2010年第12期133-136,共4页
集成电路芯片已经成为现代电子设备中大量使用的电子元器件,集成电路芯片的检测是电子设备故障排除中的一项重要工作。建立了固定型故障模型,并以HT46RU24为核心设计一种数字芯片测试仪,通过测试码控制并测试硬件的运行情况,把测试结果...
集成电路芯片已经成为现代电子设备中大量使用的电子元器件,集成电路芯片的检测是电子设备故障排除中的一项重要工作。建立了固定型故障模型,并以HT46RU24为核心设计一种数字芯片测试仪,通过测试码控制并测试硬件的运行情况,把测试结果与准确值比较,自动给出正误判断的结果。该仪器能完成20脚以内TTL系列和CMOS系列数字集成电路芯片的测试,并带有网络通信接口。实践证明,该仪器具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点,具有较高的实用价值。
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关键词
故障模型
ht46ru24
TTL
CMOS
测试集
下载PDF
职称材料
题名
多功能数字芯片测试仪的设计与应用
被引量:
8
1
作者
肖宝森
机构
厦门大学嘉庚学院电子工程系
出处
《实验技术与管理》
CAS
北大核心
2010年第12期133-136,共4页
文摘
集成电路芯片已经成为现代电子设备中大量使用的电子元器件,集成电路芯片的检测是电子设备故障排除中的一项重要工作。建立了固定型故障模型,并以HT46RU24为核心设计一种数字芯片测试仪,通过测试码控制并测试硬件的运行情况,把测试结果与准确值比较,自动给出正误判断的结果。该仪器能完成20脚以内TTL系列和CMOS系列数字集成电路芯片的测试,并带有网络通信接口。实践证明,该仪器具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点,具有较高的实用价值。
关键词
故障模型
ht46ru24
TTL
CMOS
测试集
Keywords
fault model
ht46ru24
TTL
CMOS
test suite
分类号
TP39 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
多功能数字芯片测试仪的设计与应用
肖宝森
《实验技术与管理》
CAS
北大核心
2010
8
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