期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
HTCC一体化管壳失效问题分析 被引量:3
1
作者 邱颖霞 胡骏 刘建军 《电子与封装》 2016年第3期41-44,共4页
针对HTCC一体化管壳在后道封装中出现的瓷体裂纹、渗胶变色、多余物等失效问题,通过过程应力仿真、材料物理性能测试、失效点检测、工艺对比实验等方法分析原因。并进一步开展了改进验证。对HTCC一体化管壳工程化应用具有借鉴意义。
关键词 htcc一体化管壳 瓷体裂纹 渗胶变色 多余物
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部