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GaN HEMTs微波器件的失效机理及宇航应用保障
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作者 林罡 《固体电子学研究与进展》 CAS 北大核心 2023年第2期136-146,共11页
经过30年的发展,GaN已成为当今化合物半导体领域的研究和产业化的热点,同时也是卫星微波通讯的未来重点发展技术之一,但其可靠性一直是制约GaN HEMT器件工程化的重要因素。本文回顾和总结了南京电子器件研究所解决GaN HEMT微波器件的可... 经过30年的发展,GaN已成为当今化合物半导体领域的研究和产业化的热点,同时也是卫星微波通讯的未来重点发展技术之一,但其可靠性一直是制约GaN HEMT器件工程化的重要因素。本文回顾和总结了南京电子器件研究所解决GaN HEMT微波器件的可靠性问题的研发历程,整理了GaN HEMT微波器件在各阶段的典型失效模式、失效机理。针对GaN微波器件的宇航应用,描述了与相关技术配套的宇航应用保障体系,以实现其良好的运行及未知风险的控制。 展开更多
关键词 氮化镓 SiC衬底GaN器件 微波功率器件 可靠性 失效机理 高温加速寿命试验(htol) 总剂量效应 单粒子效应 低气压放电 宇航应用保障
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MMIC高温工作加速寿命试验失效机理分析 被引量:6
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作者 林罡 贾东铭 +5 位作者 耿涛 黄念宁 徐波 薛静 高建峰 金毓铨 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2012年第6期542-547,共6页
采用恒定功耗高温加速的试验方法,搭建了相关的试验系统,对高温工作寿命试验(HTOL)方法在功率GaAs MMIC领域的应用进行了一些探索。试验获得了对失效机理进行分析所需的失效数,所有样品的失效都是由同一原因引起的。通过监测数据和失效... 采用恒定功耗高温加速的试验方法,搭建了相关的试验系统,对高温工作寿命试验(HTOL)方法在功率GaAs MMIC领域的应用进行了一些探索。试验获得了对失效机理进行分析所需的失效数,所有样品的失效都是由同一原因引起的。通过监测数据和失效样品的分析,发现存在欧姆接触退化与栅金属下沉两种失效机理,但最终引起失效的机理单一,为栅金属下沉。 展开更多
关键词 砷化镓 微波单片集成电路 赝配高电子迁移率晶体管 高温工作寿命 失效分析
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BIST电路在嵌入式非易失性存储器可靠性测试中的应用 被引量:1
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作者 安宝森 乔树山 刘琦 《电子设计工程》 2019年第11期33-37,42,共6页
最近的调查发现,存储器测试的重点都放在了故障测试而忽略了可靠性测试。这里简单介绍BIST故障测试,增加了详细的可靠性测试并得到了实验数据,包括DRB(数据保持),耐久性(擦/写循环),HTOL(高温操作寿命),LTOL(低温操作寿命)。基于存储器... 最近的调查发现,存储器测试的重点都放在了故障测试而忽略了可靠性测试。这里简单介绍BIST故障测试,增加了详细的可靠性测试并得到了实验数据,包括DRB(数据保持),耐久性(擦/写循环),HTOL(高温操作寿命),LTOL(低温操作寿命)。基于存储器可靠性测试的目的,采用了BIST测试的方法,通过一些列的可靠性测试实验,得出在电压为负时进行读“1”操作,电压越正失效的位数越少;在电压为正时进行读“0”操作,电压越小失效位数越少。随着电压增大,失效位数达到峰值。 展开更多
关键词 BIST(内建自测试) 可靠性 DRB 耐久性 故障 htol LTOL
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一种支持SoC数字电路老化及寿命的评估方法
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作者 陈朝晖 张弛 +3 位作者 刘玮 宋玉祥 刘潇骁 唐诗怡 《微电子学》 CAS 2024年第3期511-516,共6页
使用Spice可靠性仿真技术和高温稳态寿命(HTOL)实验相结合的方法,研究不同的MOSFET器件组成的环振电路在持续翻转状态下,不同应力时间和应力电压对其寿命退化的影响。依据仿真结果和Power-Law模型建立数字电路的寿命预测理论模型。通过H... 使用Spice可靠性仿真技术和高温稳态寿命(HTOL)实验相结合的方法,研究不同的MOSFET器件组成的环振电路在持续翻转状态下,不同应力时间和应力电压对其寿命退化的影响。依据仿真结果和Power-Law模型建立数字电路的寿命预测理论模型。通过HTOL实验验证模型的准确性。结果表明,随着时间的增加,器件的寿命退化率逐渐增加,且随着时间的推移,寿命的变化率越来越小。随着应力电压的增加,器件的寿命退化率更快趋向于稳定。器件退化符合R-D模型,仿真结果与试验结果高度,进一步证实了本模型对SoC数字电路寿命预测的准确性。通过这种组合仿真和实验的方法,可以更加准确地评估数字电路的寿命,为芯片制造过程中的可靠性设计提供参考。 展开更多
关键词 SoC数字电路 环振电路 Spice仿真 Power-Law模型 R-D模型 高温稳态寿命
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Reliability study of custom designed ADC for the Jiangmen underground neutrino observatory
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作者 Ru-yi Jin Jun Hu +2 位作者 Jia-yi Ren Zhe Ning Xiao-shan Jiang 《Radiation Detection Technology and Methods》 CSCD 2020年第2期203-207,共5页
Objective The Jiangmen underground neutrino observatory(JUNO)is the largest and most precise liquid scintillator detector under construction in the south of China.The front-end readout electronics system will be insta... Objective The Jiangmen underground neutrino observatory(JUNO)is the largest and most precise liquid scintillator detector under construction in the south of China.The front-end readout electronics system will be installed very close to the photomultiplier tubes under water.Therefore,the system’s absolute reliability is mandatory.As an important piece,the failure rate of the custom designed analog-to-digital convertor(ADC)must be measured.Methods The Arrhenius High Temperature Operating Life(HTOL)model is usually used to calculate the standard reliability value failure rate(λ).A temperature acceleration test of the ADC is performed with a 115℃ambient temperature based on a custom aging system.The performance of ADC is compared before and after aging,and the most significant bit(MSB)of the digital output is monitored during the test.Results The result of a 2400-hour-long test shows that there were no failures.The upper limit of the failure rate is calculated as 5.8FIT,which can be added to the failure rate of other components to meet the overall failure rate requirements(84FIT).Conclusion With the test system,we established a method based on the HTOL model to obtain the upper limit of the ADC reliability for overall failure rate calculation in JUNO.This method can be applied to the reliability measurement for any other custom designed ADC.This experiment can be repeated with a new set of parameters to get a satisfactory failure rate according to other overall system requirements. 展开更多
关键词 ADC RELIABILITY htol Failure rate
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