某型霍尔开关集成电路贮存特性研究

为研究某型霍尔开光集成电路的贮存特性,在寒温、亚湿热-入海口、亚湿热、热带海洋等4种气候下的库房开展了248个月的贮存试验,监测了B_(H-L)、B_(L-H)、B_(H)、V_(OL)、I_(CC)等5个性能参数。分析研究了性能参数退化特征及4种气候对性能参数影响的差异特点。结果显示V_(OL)和I_(CC)是贮存敏感参数,V_(OL)在贮存67个月后开始出现显著退化;4种气候对B_(H-L)、B_(L-H)、B_(H)、I_(CC)的影响有显著差异。B_(H-L)、B_(L-H)最早出现显著差异的贮存时间是18个月。最后得出V_(OL)是决定其贮存寿命的关键参数,B_(H-L)、B_(L-H)是影响其环境适应性的关键参数。