可靠性加速试验技术研究

为了更好地理解和运用可靠性加速试验技术,通过文献调研的方式,对加速寿命试验(ALT)、加速退化试验(ADT)、加速可靠性增长试验(ARGT)、高加速寿命试验(HALT)以及高加速应力筛选(HASS)等可靠性加速试验技术进行了研究。阐述了不同类型的可靠性加速试验技术在产品全生命周期内的适用阶段及其应用特点,并将可靠性加速试验与传统可靠性模拟试验技术进行了对比。对比结果表明,可靠性加速试验技术已经发展为产品寿命与可靠性评估的新途径,为高可靠性、小子样、长寿命、零失效产品的可靠性评估提供了有效方法,解决了传统可靠性模拟试验技术难以暴露产品设计缺陷和薄弱环节的问题。指出可靠性加速试验技术的应用前景以及未来方向。该研究有利于加强对可靠性加速试验技术的深入理解,以及推进该技术的长久发展。

高加速寿命试验(HALT)与高加速应力筛选(HASS)

本文简要介绍了HALT/HASS试验技术的产生、发展及在国外的应用情况 ,在深入分析HALT/HASS试验技术基本原理和环境应力与诱发的故障模式之间关系的基础上 ,阐述了HALT/HASS试验技术的核心———试验剖面图的建立方法 ,并对HALT/HASS试验技术的特点。

舰船电子设备高加速环境应力筛选试验方法的探讨

高加速环境应力筛选采用同时施加综合应力的方式进行,可在不改变故障机理的前提下,最大限度的激发电子产品的早期故障,缩短筛选周期。本文以某型舰船电子设备为研究对象,通过与常规环境应力筛选方法对比,结果表明筛选时间不仅可缩短50%以上,同时筛选效果更佳。

基于常规试验设备的HASS技术在航空电子产品上的应用

高加速应力筛选(HASS)技术是一种新型的试验技术,试验效率高,能有效保障产品的可靠性。介绍了高加速应力筛选的基本原理和典型的HASS过程,然后将HASS应用于某航空电子产品,提出了一种基于常规试验设备的HASS方案。根据环境应力筛选(ESS)与基于强化试验设备的HASS技术,给出了基于常规试验设备的HASS初始剖面制定过程,并从理论上验证了该剖面的有效性,筛选验证结果表明该剖面具有安全性。

薄板在HASS试验振动载荷下的响应分析

为了从时域角度分析薄板结构在高加速应力筛选(HASS:high accelerated stress screening)试验振动载荷条件的响应,首先采用二次相位调制控制激励峭度的方法进行HASS试验随机振动载荷的仿真模拟,其次建立了薄板在振动载荷条件下的动力学有限元方程,并基于MATLAB对薄板在HASS试验随机振动载荷的响应进行了数值计算分析。得到薄板结构在HASS试验随机振动载荷条件下的位移响应和应力分布,确定薄板结构的薄弱位置,从而为装备结构失效分析及合理制定HASS试验剖面奠定理论基础和依据。

高加速寿命试验(HALT)与高加速应力筛选(HASS)设备设计分析

本文阐述了HALT&HASS试验系统的必要性及主要工作内容,比较分析了最常使用的应力源的设计过程,最后了分析HALT&HASS试验系统的应用面及其应用前景。

可靠性强化试验及其在引信中的应用

可靠性强化试验包括设计阶段的高加速寿命试验和生产阶段的高加速应力筛选。把故障或失效当成主要的研究对象,通过发现、分析和纠正故障达到提高引信可靠性的目的。高加速寿命试验分为四个主要部分:温度步进应力、快速温度变化、随机振动、温度与振动综合应力。高加速应力筛选在高加速寿命试验结果的基础上设计,一般将综合环境应力中的高、低温度限定在工作极限的80%,而振动应力则以破坏极限值的50%作为试验的初始条件,进行综合环境应力试验。

可靠性强化试验及其在某通信产品中的应用研究

简要介绍了可靠性强化试验的概念及其国内外研究现状。以某公司通信产品的可靠性强化试验为例,阐述了强化试验的全过程和有关的试验技术与方法,给出了部分典型强化试验应力剖面和试验结果,通过对试验结果的分析得出了相关结论。在此基础上进一步总结了可靠性强化试验技术研究及应用中亟待解决的问题。

加速可靠性试验综述

加速可靠性试验是可靠性试验领域的重要研究方向。阐述了可靠性强化试验、加速寿命试验和高加速应力试验等3类加速可靠性试验的基本概念,归纳总结了3类加速可靠性试验在国内外的研究现状,并对我国开展加速可靠性试验的研究给出了几点建议。

军用电子元件的可靠性强化试验方案研究

可靠性强化试验包括高加速寿命试验和高加速应力筛选,前者用于设计阶段,后者用于生产阶段。它把故障或失效当成主要的研究对象,通过发现、研究和根治故障达到提高产品可靠性的目的。可靠性强化试验在军用电子元件中的应用,将会加快军用电子元件的研制周期,提高军用电子元件的可靠性。

可靠性试验及其发展综述

文章介绍了GJB 450A《装备可靠性工作通用要求》的400系列(可靠性试验与评价系列)中包括的试验项目,全面阐述了可靠性试验的目的、分类、环境条件,可靠性试验之间及可靠性试验与其他试验的相互关系和区别,以及各种试验的综合安排等;最后指出了高加速应力筛选(HASS)和高加速寿命试验(HALT)是可靠性试验发展的一个重要趋势。

高加速应力筛选试验中惯性器件性能建模与一致性测试(英文)

针对高加速应力筛选(High Accelerated Stress Screening)试验中对受试产品剩余寿命的要求,在惯性器件剩余寿命降低到一定程度后其性能会发生变化的前提下,提出了一种考核惯性产品寿命受高加速应力影响的方法。首先在高加速应力筛选试验前测试惯性器件的关键性能,以信噪比(SNR)和相关度(ρ)为评价原则利用自回归(Auto Regressive)方法对性能指标测试参数进行建模,确定最优模型阶数;使用Burg方法计算AR模型系数。在惯性器件经受了高加速应力筛选试验后测试惯性器件的性能参数,利用Chow检验方法对加速应力筛选试验前后的性能测试参数进行检验,在一定置信度条件下考察性能参数是否发生了显著性变化,进而对高加速应力筛选试验是否影响惯性器件的剩余寿命进行判定。最后通过某型加速度计高加速应力试验进行了验证。

加速极限试验方法综述

介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。

高加速应力筛选试验技术研究

简要介绍了高加速应力筛选试验技术的产生、发展及在国外的应用情况,在分析高加速应力筛选试验技术基本原理的基础上,研究了高加速应力筛选试验技术的核心———试验剖面图的建立方法,并对高加速应力筛选试验技术的特点及如何开展试验等作了相关分析,最后进行了总结和问题讨论。

武器装备中电子产品模块级可靠性强化试验

由于武器装备中的电子设备复杂性导致传统的可靠性试验很难满足其需求,一种全新概念的可靠性强化试验技术应运而生,它有效地解决了现代电子产品高可靠性、低开发成本和短研制周期之间的矛盾。分析了模块级电子产品的两类缺陷,给出了一些具体的试验方法。

提升产品可靠度测试方法的改进

现代科技日新月异 ,技术不断更新 ,客户期望可靠的产品是对企业设计、研发、测试团队的挑战。有别于传统试验方法的高加速寿命测试 (HALT :HighlyAcceleratedLifeTest)和高加速应力筛选 (HASS :HighlyAcceleratedStressScreen)的科学试验方法正是快速提高产品可靠度、保证品质、增强企业竞争力的关键。该文详述了HALT&HASS的涵义。