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利用I-V正向特性提取PN二极管主要参数的研究 被引量:4
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作者 丁扣宝 潘骏 《电子器件》 CAS 2002年第1期27-28,共2页
研究了利用电流 -电压 (I- V)正向特性提取 PN结二极管参数的方法。与通常使用的 PN结二极管模型不同 ,本文模型考虑了并联电导对电流的影响。在 I- V特性曲线上读取四级 (V,I)值 ,用牛顿法对模型方程组进行数值求解 ,可提取出 PN结二... 研究了利用电流 -电压 (I- V)正向特性提取 PN结二极管参数的方法。与通常使用的 PN结二极管模型不同 ,本文模型考虑了并联电导对电流的影响。在 I- V特性曲线上读取四级 (V,I)值 ,用牛顿法对模型方程组进行数值求解 ,可提取出 PN结二极管的主要参数 :反向饱和电流 ,串联电阻 ,发射系数以及并联电导。结果表明 ,该方法简便。 展开更多
关键词 PN结二极管 i-v正向特性 参数提取
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The Convergence Characteristic of the Forward I-V Characteristic Curves of a Semiconductor Silicon Barrier at Different Temperatures
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作者 苗庆海 卢烁今 +2 位作者 张兴华 宗福建 朱阳军 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第4期663-667,共5页
The /-V-(T) characteristic curves of p-n junctions with the forward voltage as the independent variable, the logarithm of forward current as the dependent variable, and the junction temperature as the parameter, alm... The /-V-(T) characteristic curves of p-n junctions with the forward voltage as the independent variable, the logarithm of forward current as the dependent variable, and the junction temperature as the parameter, almost converge at one point in the first quadrant. The voltage corresponding with the convergence point nearly equals the bandgap of the semiconductor material. This convergence point can be used to obtain the I-V characteristic curve at any temperature. 展开更多
关键词 semiconductor barrier bandgap convergent point forward i-v characteristic curves
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