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PbO和Nb2O5共掺杂对CaCu3Ti4O12陶瓷介电性能的影响
被引量:
2
1
作者
卢云
王若男
+1 位作者
柯建成
王莉
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2019年第8期29-34,共6页
采用固相反应法制备PbO和Nb2O5共掺杂的CaCu3Ti4O12(CCTO)陶瓷,研究了CCTO巨介电效应机理.通过XRD,SEM,介电频谱及阻抗谱等测试手段,分析纯CCTO陶瓷,PbO掺杂的CCTO陶瓷和PbO、Nb2O5共掺杂CCTO陶瓷的微观结构及介电性能,研究结果表明:掺...
采用固相反应法制备PbO和Nb2O5共掺杂的CaCu3Ti4O12(CCTO)陶瓷,研究了CCTO巨介电效应机理.通过XRD,SEM,介电频谱及阻抗谱等测试手段,分析纯CCTO陶瓷,PbO掺杂的CCTO陶瓷和PbO、Nb2O5共掺杂CCTO陶瓷的微观结构及介电性能,研究结果表明:掺杂PbO可以显著降低CCTO陶瓷的介电损耗,掺杂摩尔分数2%PbO的CCTO陶瓷的介电损耗从0.13下降到0.03,但其介电常数也显著下降;摩尔分数2%PbO和0.25%Nb2O5共掺杂的CCTO陶瓷,在0.1~1 kHz频率范围内相对介电常数高达4.6×10^4~5.5×10^4,而介电损耗只有0.09左右,且摩尔分数2%PbO和0.5%Nb2O5共掺杂的CCTO陶瓷的相对介电常数在4×10^4左右.因此,PbO和Nb2O5共掺杂可以在增加CCTO陶瓷介电常数的同时降低其介电损耗.结合阻抗谱分析表明,CCTO陶瓷的介电损耗在低频下由晶界电阻决定,在高频下主要受晶粒电容的影响,而介电常数的大小取决于晶粒尺寸和晶界极化,符合IBLC模型.
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关键词
固相反应
CCTO陶瓷
共掺杂
微观结构
巨介电性能
iblc模型
下载PDF
职称材料
题名
PbO和Nb2O5共掺杂对CaCu3Ti4O12陶瓷介电性能的影响
被引量:
2
1
作者
卢云
王若男
柯建成
王莉
机构
电子科技大学电子科学与工程学院
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2019年第8期29-34,共6页
文摘
采用固相反应法制备PbO和Nb2O5共掺杂的CaCu3Ti4O12(CCTO)陶瓷,研究了CCTO巨介电效应机理.通过XRD,SEM,介电频谱及阻抗谱等测试手段,分析纯CCTO陶瓷,PbO掺杂的CCTO陶瓷和PbO、Nb2O5共掺杂CCTO陶瓷的微观结构及介电性能,研究结果表明:掺杂PbO可以显著降低CCTO陶瓷的介电损耗,掺杂摩尔分数2%PbO的CCTO陶瓷的介电损耗从0.13下降到0.03,但其介电常数也显著下降;摩尔分数2%PbO和0.25%Nb2O5共掺杂的CCTO陶瓷,在0.1~1 kHz频率范围内相对介电常数高达4.6×10^4~5.5×10^4,而介电损耗只有0.09左右,且摩尔分数2%PbO和0.5%Nb2O5共掺杂的CCTO陶瓷的相对介电常数在4×10^4左右.因此,PbO和Nb2O5共掺杂可以在增加CCTO陶瓷介电常数的同时降低其介电损耗.结合阻抗谱分析表明,CCTO陶瓷的介电损耗在低频下由晶界电阻决定,在高频下主要受晶粒电容的影响,而介电常数的大小取决于晶粒尺寸和晶界极化,符合IBLC模型.
关键词
固相反应
CCTO陶瓷
共掺杂
微观结构
巨介电性能
iblc模型
Keywords
solid phase reaction
CCTO ceramics
co-doping
microstructure
giant dielectric performance
iblc
mode
分类号
TM28 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
PbO和Nb2O5共掺杂对CaCu3Ti4O12陶瓷介电性能的影响
卢云
王若男
柯建成
王莉
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2019
2
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职称材料
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