单链扫描可测性设计中存储元件的排序

本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法。采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解。对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。

集成电路测试相关标准研究与探讨

重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题及相关标准,阐述了各标准的作用,分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性。

大规模集成电路脉冲拨号器的解剖、分析与设计

作者为研制按键电话用的大规模集成电路进行了大量的工作。在解剖和分析优选的脉冲拔号器后,吸收其设计思想和设计方法,完成了脉冲拨号器的逻辑设计。一旦此集成拨号器投产成功,必将产生相当的社会效益,并为开发新一代电话机集成电路打下基础。