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题名高密度封装技术推动测试技术发展
被引量:4
- 1
-
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作者
鲜飞
-
机构
烽火通信科技股份有限公司
-
出处
《电子工业专用设备》
2008年第2期32-35,共4页
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文摘
高密度封装技术的飞速发展也给测试技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的测试技术不断涌现。对几种新型测试技术的特点及未来测试技术的发展趋势进行了初步分析。
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关键词
集成电路
封装
测试技术
自动光学检测技术
自动X-射线检测
-
Keywords
ic
package
testing technology
aoi
axi
-
分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名高密度封装技术推动测试技术发展
被引量:3
- 2
-
-
作者
鲜飞
-
机构
烽火通信科技股份有限公司
-
出处
《印制电路信息》
2004年第9期64-66,共3页
-
文摘
高密度封装技术的飞速发展也给测试技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的测试技术不断涌现。本文主要介绍了几种新型测试技术的特点,并对未来测试技术的发展趋势及方向进行了初步分析。
-
关键词
高密度封装
测试技术
发展趋势
应对挑战
未来
新挑战
方向
-
Keywords
ic package testing technology aoi axi
-
分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名高密度封装技术推动测试技术发展
被引量:2
- 3
-
-
作者
鲜飞
-
机构
烽火通信科技股份有限公司
-
出处
《中国集成电路》
2008年第7期65-68,共4页
-
文摘
高密度封装技术的飞速发展也给测试技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的测试技术不断涌现。本文主要介绍了几种新型测试技术的特点,并对未来测试技术的发展趋势及方向进行了初步分析。
-
关键词
集成电路
封装
测试技术
自动光学检测技术
自动X-射线检测
-
Keywords
ic
package
testing technology
aoi
axi
-
分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名高密度封装技术推动测试技术发展
被引量:1
- 4
-
-
作者
鲜飞
-
机构
烽火通信科技股份有限公司
-
出处
《电子质量》
2006年第2期9-11,共3页
-
文摘
本文主要介绍了几种新型测试技术的特点,并对未来测试技术的发展趋势及方向进行了初步分析。
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关键词
集成电路
封装
测试技术
自动光学检测技术
自动X-射线检测
-
Keywords
ic package
testing technology
aoi
axi
-
分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名高密度封装技术推动测试技术发展
- 5
-
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作者
鲜飞
-
机构
烽火通信科技股份有限公司
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出处
《国外电子测量技术》
2005年第3期19-21,共3页
-
文摘
高密度封装技术的飞速发展也给测试技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的测试技术不断涌现。本文主要介绍了几种新型测试技术的特点,并对未来测试技术的发展趋势及方向进行了初步分析。
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关键词
高密度封装
测试技术
发展趋势
应对挑战
未来
新挑战
方向
-
Keywords
ic
package
testing technology
aoi
axi
-
分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名高密度封装与测试技术的发展
- 6
-
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作者
鲜飞
-
机构
烽火通信科技股份有限公司
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出处
《电子元器件应用》
2005年第3期42-44,共3页
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文摘
高密度封装技术的飞速发展对测试技术提出新挑战。新的测试技术不断涌现。主要介绍几种新的测试技术的特点,对测试技术的发展趋势及方向进行初步分析。
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关键词
集成电路
封装
测试技术
自动光学检测
自动X-射线检测
-
Keywords
ic
package
testing technology
aoi
axi
-
分类号
TN304.07
[电子电信—物理电子学]
-
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题名测试技术在电子组装行业上的应用与发展
- 7
-
-
作者
鲜飞
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机构
烽火通信科技股份有限公司
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出处
《印制电路信息》
2005年第3期61-64,共4页
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文摘
高密度封装技术的飞速发展也给测试技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的测试技术不断涌现,主要介绍了几种新型测试技术的特点,并对测试技术的发展趋势及方向进行了初步分析。
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关键词
集成电路
封装
测试技术
自动光学检测技术
自动X-射线检测
电子组装
高密度封装技术
应用
行业
发展趋势
-
Keywords
ic package testing technology aoi axi
-
分类号
TN405
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名高密度封装技术推动测试技术发展
- 8
-
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作者
鲜飞
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机构
烽火通信科技股份有限公司
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出处
《电子与封装》
2005年第1期8-10,共3页
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文摘
高密度封装技术的飞速发展也给测试技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的测试技术不断涌现。本文主要介绍了几种新型测试技术的特点,并对未来测试技术的发展趋势及方向进行了初步分析。
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关键词
集成电路
封装
测试技术
自劝光学检测技术
自动X射线检测
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Keywords
ic package testing technology aoi axi
-
分类号
TN305.94
[电子电信—物理电子学]
-
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题名未来集成电路封测技术趋势和中国封测业发展
被引量:6
- 9
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作者
周峥
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机构
中电智能卡有限责任公司
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出处
《电子与封装》
2015年第1期1-5,共5页
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文摘
介绍了全球集成电路封装测试业的发展历程、发展现状、行业竞争格局和技术发展趋势,并重点分析中国封装测试业的发展现状以及面临的机遇和挑战。研究结果表明,中国封装测试业整体呈稳步增长态势,本土集成电路市场内生增长前景广阔,内资企业与外资、合资企业的技术、规模差距不断缩小,中国封测业面临前所未有的发展机遇。但是国内封测业的发展也面临制造业涨薪潮、大批国际组装封装业向中国内地转移、整机发展对元器件封装组装微小型化要求等重大挑战。
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关键词
集成电路封装测试业
发展现状
竞争格局
技术趋势
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Keywords
ic packaging and testing industry
development status
competition pattern
technological trend
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分类号
TN305.94
[电子电信—物理电子学]
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