集成电路辐射发射典型测试方法对比研究

TEM小室法和IC带状线法是目前集成电路辐射发射测试中的两种典型方法,测试方法的选用和对测试结果的处理是两种测试方法易混乱之处。基于两种测试方法的原理,分析了测试结果关联关系、IC高度和电压驻波比对测试结果的影响。测试数据表明,两种测试方法归一化后的测试结果基本一致,IC高度和电压驻波比对两种测试方法的测试结果有不同程度的影响,最后给出两种测试方法的选用建议。研究结果可为制造商、测试机构及用户等相关人员提供参考,有利于集成电路辐射发射性能评估的一致性。

IEC 61967系列-集成电路辐射发射测试方法分析

本文介绍了国际标准IEC 61967系列标准中关于集成电路辐射发射测量方法。同时,对标准给出的TEM小室和GTEM小室法、表面扫描法、IC带状线法的测试原理,试验布置及测试方法的特点进行了说明,以帮助测试人员根据不同种类的IC进行选择相应的试验方法。