基于Halcon的IC测试探针表面质量的机器视觉检测系统

IC测试是集成电路生产中的重要工序，探针表面诸如划痕、凹坑等缺陷对性能测试结果影响大.文章研究了IC探针表面质量的机器视觉检测方法，讨论了灰度变换、均值滤波、区域连通、图像分割等缺陷图像处理和形状识别方法，建立了相应的探针表面质量检测系统，并基于机器视觉软件Halcon开发了探针表面质量检测系统软件.实验表明：开发的检测系统可对直径0.3-0.6 mm的IC测试探针表面质量进行快速检测评估，且系统的稳定性好、检测精度高，能有效缩短检测时间和减少检测成本.

简述IC测试的意义和作用

IC测试技术是有着四十多年历史的一项应用科学技术,其适应整个IC产业的需求在神州大地悄然兴起,展望未来必将促进集成电路测试业的形成和发展,集成电路设计、制造、封装和测试四业并举,使我国集成电路产业健康发展,为信息产业打下坚实的基础。IC测试技术伴随着集成电路的飞速发展而发展,对促进集成电路的进步和广泛应用作出了巨大贡献,各个军工行业的研究院、所、厂都有自己的元器件检测中心,并引进先进的国产、进口各类高性能集成电路测试设备,负责集成电路在军工行业应用的质量把关。随着IC测试成本的不断提高,验证测试成为集成电路制造中的必要环节。

IC测试仪的数据采集及GUI的设计与实现

为了快速精确测量模拟芯片总谐波失真,转换速率等参数指标,设计了一款基于模拟IC测试仪的数据采集系统,模拟信号经过数据采集卡后变成数字信号,根据数字信号进行相关参数的测量,然后将结果通过控制板经过PCI传给上位机,将结果显示在GUI中的Datalog中,硬件方面,测量精度为14位,最低采样频率为10MHz,误差精度小于2%,软件方面,采用多种方式设计AB-MS测试界面的显示,确保界面使用的多样性和便捷。通过实际测试芯片表明系统的设计指标符合项目的要求。

高速IC测试系统的信号完整性设计

随着高速数字电路如专用集成电路AISC、片上系统SOC和超高速混合信号处理电路ADC、DAC等集成电路数字端口的数据率提升,被测集成电路的电参数测试过程中常受到测试系统信号完整性问题的影响,导致实测电参数结果与其实际性能有较大差异。为了更真实的反映被测器件(DUT)的电性能,提出了通过仿真和结合良好的PCB设计来解决测试系统信号完整性问题的方法,分析并解决了测试系统信号完整性仿真中模型不完善的相关问题。通过对一款DUT测试系统的信号完整性设计和测试,验证了设计方法和建模的有效性。

基于模拟IC测试的任意波形发生器设计与实现

面向模拟IC自动测试仪设计并实现了一种由FPGA控制的任意波形发生器。设计采用闭环控制的方法,保证任意波形发生器输出信号的高精度。任意波形发生器波形数据存储深度最大可达128 MB,采样精度为16位,最高采样率可达到160 MHz,输出信号频率为1 Hz^1 MHz,峰峰值范围为20 mV^20 V,幅度偏置范围为±2.5 V,精度可达到±0.1 dB。实际测试表明该设计满足模拟IC测试仪的项目要求。

IC测试插座选型与技术要求

对于IC电路测试而言,测试插座不可缺少,测试插座的质量直接关系到测试指标的准确性,该文简单介绍了测试插座的基本知识,详细介绍了插座材料的特性以及选型的技术要点,并给出了测试对比的结果,希望对IC测试工程师插座选型有一定的参考意义。

γ编码器在IC测试向量压缩中的应用

介绍了一种基于γ编码的IC测试向量集的压缩和解压缩方法,通过对自拟测试向量和ISCASBenchmark的测试向量的压缩分析,发现γ编码在压缩测试向量时有较高的压缩率。还给出了γ编码的压缩代码和解码器的VerilogHDL语言描述和RTL级电路图。

基于DSP的通用图像处理ASIC测试平台设计

针对图像处理ASIC测试平台无法兼容的问题,设计了一种基于DSP的通用图像处理ASIC测试平台。该平台以DSP为控制核心,采用FPGA作为DSP系统和测试插座的连接"桥梁",待测图像处理ASIC设计成转接板,通过测试插座与测试平台连接。测试向量可通过串行接口从PC机下载到内存中,也可通过控制摄像头实时获取。DSP控制测试向量通过FPGA实现的连接接口,施加给待测图像处理ASIC并读取响应向量,然后同预期响应向量进行比较,输出测试结果,也可上传到PC机中进一步分析。

IC测试多工位防呆技术的研究与实现

在IC生产测试中,经常会采取多工位的测试,这样的测试方法会显著提高测试的效率,提高生产量。然而,此种测试也会带来重大的生产隐患,严重时会带来重大的生产事故。采取传统的人员检查检测来预防,效率不高,错误也难以得到根本的避免。针对这一现象,在IC生产测试中,分别从软、硬件上进行改进,实现了IC生产中防止多个测试工位连接的错误,起到防呆作用。

基于良率改善的IC测试探针优化设计

本论文改善设计一种弹力更大,材质更好,针头形状更佳的IC测试探针。传统的IC测试探针里面的弹簧弹力一般,针头采用镀金的材质,使用单锥形状的针头,针测次数少,使用寿命短,保养更换频繁,阻碍了生产率的提高。现通过提高弹簧弹力,使用钯合金的材质,采用三爪形状的针头可明显的增加针测次数,延长使用寿命,减少保养更换的频率,具有良好的经济性和可行性。

基于SAK-C167单片机的智能IC测试仪设计

针对一些IC 芯片类电子元件进行检验困难的问题,如RAM、ROM、FLASH 或单片机等芯片,设计了智能IC 检测仪器,此测试仪基于C167 单片机,通过IO 扩展接口和被测芯片测试板连接,对被测芯片进行功能性验证,并通过液晶显示出结果,也可以由CAN 接口将结果传递给其他设备或上位机.经实际验证,此测试仪具有简单、可靠的特点,降低了IC测试的复杂性和测试成本.

低噪声高分辨IC测试系统设计

集成电路(IC)测试要求高速、高分辨率、高信噪比的信号采集系统,设计一套合适的采集系统具有极其重要的意义。论文分析了IC测试系统的组成原理,设计了低噪声信号调理电路并分析噪声系数;设计了可调相位延迟的时钟采样电路,有效实现低抖动的延迟;分析了误差对系统的影响,建立时间交替采样模型,有效校正了误差。测试表明,系统可有效实现高速高分辨的IC采集系统,达到16位分辨率、1 G采样率,波形误差达到63 dB,有效位数达到近12位,达到设计的要求。

IC测试继电器的选型与使用

对于IC电路测试而言,继电器的使用非常必要,可以快速解决测试过程中的难题,该文介绍了继电器的基本知识以及工作原理,详细介绍了几种在IC测试中常用的典型案例,并根据不同继电器的对比测试,给出了实际测试的结果,希望对IC测试工程师继电器选型与使用有一定的参考意义。

时代民芯助力科技奥运，奥运门票IC测试全面完成

举世瞩目的2008奥运在即，奥运门票已经完成了第一、第二阶段的销售工作，奥运门票的票面虽然还没有公布，但里面蕴藏的高科技因素已经提前揭开面纱，与以往传统门票不同的是，此次每张奥运门票内都嵌有一颗长宽1mm的芯片。到了奥运会赛场，这些门票都将接受验票机上无线射频的识别。芯片里有全球唯一的序列号，对应着验票机上的一把“秘密钥匙”。观众在场外接受安检时，就像公交IC卡一样，观众只需拿着门票在验票机一刷，验票机就能在0．1s内辨认门票的真伪。

NI将RFIC测试功能扩展到NB-IoT和eMTC标准

美国国家仪器公司（简称NI）近日宣布推出NI-RFmx NB-IoT／eMTC测量软件，该软件进一步增强了NI针对从802．11a／b／g／n／ac／ax、蓝牙到2G／3G／4G／5G标准等无线技术的现有RF协议测试功能。

IC测试业方兴未艾

西安西谷微电子有限责任公司成立于2000年12月，专业从事集成电路测试、筛选、测试软硬件开发及相关技术配套服务，是国家集成电路设计西安产业化基地测试分析平台的依托实体。

IC测试的创新

2009年11月底,本刊编辑参加了Globalpress公司的AsiaPress Tour采访团,采访了从IC设计公司到IC测试公司的整个产业链,现在分IC测试、电源管理等部分介绍。

探索科研新模式北京IC测试联合实验室成立

集成电路（IC）测试是集成电路产业的重要一环。设计、制造、封装、测试四业并举，是国际集成电路产业发展的主流趋势。“北京集成电路测试技术联合实验室”的成立，开创了科研运作的新模式。

Cal Test Electronics公司IC测试夹

Cal Test Electronics公司推出MiniPro系列通用IC测试夹。这些测试夹同时适用于电路和基本测试互连。它们具有平滑、软触启动，镀金铍铜合金（或同等）探钩。这些测试夹分为10种颜色，以便识别；还包括一个安全弹簧锁部件，将测试夹部件结合在一起，以适应繁重的使用。测试夹符合新欧洲标准、有害物质限制要求、指示2002／95／EC，这些规定用于管理从电子产品中消除选定的有害物质。可以带引线单独购买，也可以购买10件装套件。提供各种配置和颜色，价格为1．35美元。