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题名基于虚拟仪器技术的混合IC测试系统
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出处
《电子元器件应用》
2005年第9期22-22,24,共2页
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关键词
虚拟仪器
混合ic测试系统
参数测试
工作电流
工作电压
载波抑制比
噪声系数
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分类号
TP216
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名德律TR-6800电源管理IC测试系统
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出处
《电子工业专用设备》
2003年第3期77-77,共1页
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关键词
电源管理
ic测试系统
TB-6800
德律公司
WIN2000作业环境
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分类号
TN86
[电子电信—信息与通信工程]
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题名模拟IC自动测试系统的直流参数测试单元
被引量:2
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作者
马宁
韩磊
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机构
电子科技大学微电子与固体电子学院
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出处
《电子设计工程》
2014年第12期121-123,共3页
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文摘
模拟IC自动测试系统主要针对模拟IC的直流参数和交流参数进行测试,其中直流参数的测试是整个测试过程的重要部分。直流参数测试单元可以为芯片提供稳定的、精确的电压或电流,主要实现两种功能:一种是对待测芯片施加电压从而测量电流值,简称FVMI(加电压测电流)功能;另一种是对待测芯片施加电流从而测量电压值,简称FIMV(加电流测电压)功能。
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关键词
模拟ic自动测试系统
直流参数测试单元
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Keywords
FVMI
FIMV
analog ic automatic test system
DC parameter measurement unit
FVMI
FIMV
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名下一代开放式架构测试解决方案
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作者
魏炜
浜岛明
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机构
爱德万测试(苏州)有限公司
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出处
《中国集成电路》
2008年第3期76-80,共5页
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文摘
近来随着IC市场的多样化发展趋势,对能够覆盖各种专业测试功能的IC测试系统要求也日益迫切,同样如何降低测试成本也是至关重要。为了适应相应的需求,解决面对的问题,爱德万测试公司(ADVANTEST)推出了下一代开放式架构测试解决方案——T2000 SoC测试系统。
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关键词
开放式架构
T2000
模块
ic测试系统
SOC测试
集成电路
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Keywords
OPENSTAR, T2000, Module
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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